[发明专利]测试方法、装置以及计算机系统

说明书

本申请关于测试方法、装置以及计算机系统，涉及计算机的BIOS测试技术领域，在本申请中，计算机系统根据测试用例对BIOS的待测试功能进行测试时，基于待测试功能确定目标测试界面对应的路径信息，并根据该路径信息控制运行BIOS的设备显示目标测试界面，无需使用测试用例中的脚本，即可完成界面切换，实现了界面切换过程与测试用例执行过程的分离，当BIOS的设置界面中任一测试界面对应的控件的路径发生变化时，只需对BIOS的每个测试界面对应的路径信息进行更新，即可根据路径信息显示对应的目标测试界面。无需对测试用例中的脚本进行更新，能够提高测试用例的可维护性，节约测试时间，提升测试效率。

技术领域

本申请涉及计算机的BIOS测试技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置以及计算机系统。

背景技术

基本输入输出系统(basic input output system,BIOS)，用于向计算机系统提供底层的硬件设置和硬件控制。在BIOS芯片制造完成后，制造商需要对该BIOS芯片上运行的BIOS的功能进行测试，以验证BIOS的功能性、安全性、稳定性。通常，计算机系统在使用测试用例对待测试的BIOS的某个功能进行测试时，每个测试用例中包括对应的切换界面的脚本，计算机系统根据该脚本向待测试的BIOS发送指令，控制该BIOS将当前显示的界面切换到与该功能对应的测试界面，并在该测试界面中执行测试用例，以完成对该功能的测试。

由于上述脚本是根据进入每个菜单的控件在BIOS的设置界面中显示的位置生成的，且脚本的界面切换代码与每个测试用例的测试代码高度耦合。因此，当设置界面中的任一测试界面对应的控件显示的位置发生变化时，需要对每个测试用例的界面切换代码进行修改，以使得能够根据脚本将BIOS的界面切换到与该测试用例的测试功能对应的测试界面，导致测试用例的维护性差，存在BIOS功能测试效率低的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种测试方法、装置以及计算机系统，用于解决用于BIOS测试的测试用例的维护性差，导致BIOS测试的测试效率低的技术问题。

为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供了一种测试方法，应用于计算机系统，计算机系统用于测试基本输入输出系统BIOS连接，上述方法包括：确定待测试功能对应的目标测试界面，待测试功能为基本输入输出系统BIOS具有的任一种功能；获取目标测试界面对应的路径信息，路径信息用于指示：将目标控件在基本输入输出系统BIOS的设置界面中进行显示的路径，目标控件用于进入目标测试界面，设置界面包括：用于进入基本输入输出系统BIOS的每个测试界面的控件；基于路径信息，在运行基本输入输出系统BIOS的设备上显示目标测试界面；在目标测试界面对待测试功能进行测试，得到测试结果。计算机系统根据测试用例对BIOS的待测试功能进行测试时，基于待测试功能确定目标测试界面对应的路径信息，并根据该路径信息控制运行基本输入输出系统BIOS的设备显示目标测试界面，无需使用测试用例中的脚本，即可完成界面切换，实现了界面切换过程与测试用例执行过程的分离，当BIOS的设置界面中任一测试界面对应的控件的显示位置发生变化时，只需对BIOS的每个测试界面对应的路径信息进行更新，即可根据路径信息显示对应的目标测试界面。无需对测试用例中的脚本进行更新，能够提高测试用例的可维护性，节约测试时间，提升测试效率。

在第一方面的一种可能的实现方式中，基于路径信息，在运行基本输入输出系统BIOS的设备上显示目标测试界面，包括：根据路径信息确定界面切换指令；向基本输入输出系统BIOS发送界面切换指令，界面切换指令用于寻找目标控件在基本输入输出系统BIOS的设置界面的显示位置，根据显示位置，操作目标控件，以使得运行基本输入输出系统BIOS的设备上显示目标测试界面。计算机系统根据目标测试界面的路径信息生成对应的界面切换指令，并将该界面切换指令发送给运行待测试的BIOS的设备。运行待测试的BIOS的设备根据该界面切换指令快速显示目标测试界面，以实现计算机系统在BIOS的目标测试界面对待测试功能进行测试，得到测试结果。能够有效提升测试效率。