[发明专利]一种水分仪自动校准方法

权利要求书

1.一种水分仪自动校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、根据水分仪所在位置及检测物料特性，制作标准水分物料；

S2、校准人员将步骤S1的标准水分物料放入水分仪下进行检测，记录水分仪显示值；

S3、校准人员根据标准水分物料水分真值，对水分仪修正值T往上或往下进行调整；并将标准水分物料再次放入水分仪下进行检测，记录水分仪的显示值，经过N次调整跟踪，得到N个水分仪调整量△T₁、△T₂、△T₃......△T_N、N个水分仪实际响应量△Tx₁、△Tx₂、△Tx₃......△Tx_N，其中N为自然数；

S4、将步骤S3的所有数据均录入控制该水分仪的控制器；

S5、控制器通过统计方法，剔除水分仪异常调整响应数据，并以水分仪剩余调整响应数据为样本，得到水分仪调整响应函数。

2.根据权利要求1所述的水分仪自动校准方法，其特征在于，在每次校准时均需要将步骤S3的数据录入控制器，以增加样本量，提高水分仪调整响应函数的测算准确度。

3.根据权利要求1所述的水分仪自动校准方法，其特征在于，步骤S5的统计方法为线性回归统计方法中的一种。

4.根据权利要求1所述的水分仪自动校准方法，其特征在于，在步骤S5后，校准人员记录水分仪显示值F，同时在水分仪后取样用烘箱法检测得到物料含水率真值M，根据水分仪显示值F与水分仪检测物料水分真值M，得到水分仪偏差为N，仅需将其录入该水分仪的控制器后，控制器将根据水分仪调整响应函数自动推算出水分仪调整量△T并对该水分仪的参数进行调整。

5.根据权利要求1所述的水分仪自动校准方法，其特征在于，所述水分仪与控制器电信号连接。