[发明专利]一种对称面补全方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202210755141.9 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN114820955B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 胡兰;王一夫;张如高;虞正华 申请(专利权)人: 苏州魔视智能科技有限公司
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00;G06T19/20;G06T7/33
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 陈刚
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 对称 面补全 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种对称面补全方法,其特征在于,所述方法包括:

获取第一特征点云与第二特征点云;所述第一特征点云与所述第二特征点云为从不同方位对目标物体采集得到的特征点云;

基于位姿变换参数,分别对所述第一特征点云与所述第二特征点云进行位姿变换,对应获得第一变换点云与第二变换点云;

基于对称变换参数,分别对所述第一特征点云与所述第二特征点云进行对称变换,对应获得第一对称点云与第二对称点云;

计算所述第一对称点云以及所述第一特征点云,与所述第二变换点云的第一残差;

计算所述第一特征点云以及所述第二变换点云,与所述第一对称点云的第二残差;

计算所述第一变换点云以及所述第二特征点云,与所述第二对称点云的第三残差;

以所述第一残差、所述第二残差以及所述第三残差的加权和最小为目标条件,迭代更新所述位姿变换参数与所述对称变换参数,以便根据更新后的所述对称变换参数对所述目标物体执行补全操作。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述位姿变换参数包括位姿变换矩阵;

所述基于位姿变换参数,分别对所述第一特征点云与所述第二特征点云进行位姿变换,对应获得第一变换点云与第二变换点云,包括:

通过位姿变换矩阵,对所述第一特征点云中的各个坐标点进行坐标变换,对应获得第一变换点云;

通过位姿变换矩阵的逆矩阵,对所述第二特征点云中的各个坐标点进行坐标变换,对应获得第二变换点云。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述计算所述第一对称点云以及所述第一特征点云,与所述第二变换点云的第一残差,包括:

在所述第一对称点云以及所述第一特征点云中,选取与所述第二变换点云中的各个特征点最邻近的特征关联点,以构成第一邻近点集合;

计算所述第一邻近点集合中的各个特征点,与所述第二变换点云中的各个特征点之间的残差的平方和作为所述第一残差。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述在所述第一对称点云以及所述第一特征点云中,选取与所述第二变换点云中的各个特征点最邻近的特征关联点,包括:

针对第二变换点云中的每个变换后特征点,在所述第一特征点云中选取与所述变换后特征点之间的欧拉距离最小的点为候选关联点;

当所述目标欧拉距离小于或等于目标残差阈值时,将第一特征点云中的所述候选关联点确定为与所述变换后特征点最邻近的特征关联点;

当所述目标欧拉距离大于目标残差阈值时,在所述第一变换点云中选取与所述变换后特征点之间欧拉距离最小的点作为与所述变换后特征点最邻近的特征关联点。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述计算所述第一特征点云以及所述第二变换点云,与所述第一对称点云的第二残差,包括:

在所述第一特征点云以及所述第二变换点云中,选取与所述第一对称点云的中各个特征点最邻近的特征关联点,以构成第二邻近点集合;

计算所述第二邻近点集合中的各个特征关联点,与所述第一对称点云中的各个特征点之间的残差的平方和作为所述第二残差;

所述计算所述第一变换点云以及所述第二特征点云,与所述第二对称点云的第三残差,包括:

在所述第一变换点云以及所述第二特征点云中,选取与所述第二对称点云中的各个特征点最邻近的特征关联点,以构成第三邻近点集合;

计算所述第三邻近点集合中的各个特征关联点,与所述第二对称点云中的各个特征点之间的残差的平方和作为所述第三残差。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述迭代更新的过程中,所述位姿变换参数的初始值可以为信息采集设备采集到的第二特征点云到第一特征点云的变换位姿。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据更新后的所述对称变换参数对所述目标物体执行补全操作,包括:

根据更新后的对称变换参数,对所述第一特征点云执行对称变换,获得第三特征点云;

将所述第一特征点云、所述第二变换点云与所述第三特征点云之间的特征点融合,获得目标特征点云,以指示所述目标物体的补全状态。

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