[发明专利]用于光子计数计算机断层扫描的Δ调制基线恢复在审
申请号: | 202180073532.6 | 申请日: | 2021-08-06 |
公开(公告)号: | CN116507283A | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | P·里尔 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张丹 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光子 计数 计算机 断层 扫描 调制 基线 恢复 | ||
一个实施例是用于无图计数计算机断层扫描(“PCCT”)信号链的基线恢复(“BLR”)电路,该BLR电路包括:比较器,用于将从PCCT信号链的整形器组件输出的整形器电压与基线电压进行比较,该比较器输出指示整形器电压是高于还是低于基线电压的单个位;低通滤波器,所述低通滤波器被连接以对从所述比较器输出的电压信号进行滤波;以及跨导器,所述跨导器被连接以接收从所述低通滤波器输出的滤波的电压信号,将所述滤波的电压信号转换为电流信号,并且将所述电流信号反馈到所述PCCT信号链的输入。
相关申请
本公开要求于2020年9月18日提交的题为“用于光子计数计算断层扫描的Δ调制基线恢复”的第63/080315号美国临时专利申请的优先权,该申请的公开内容通过引用整体并入。
技术领域
本公开一般涉及光子计数计算机断层扫描(PCCT)领域,更具体地,涉及用于PCCT的Δ调制基线恢复(BLR)技术。
附图说明
为了提供对本公开及其特征和优点的更完整的理解,结合附图参考以下描述,其中相同的附图标记表示相同的部分,其中:
图1是根据本文所述的某些实施例的特征的包括线性BLR电路的典型PCCT信号链的示意框图;
图2是示出根据本文所述的某些实施例的特征启用线性BLR的图1的PCCT信号链的示例计数曲线的曲线图;
图3是示出根据本文所述的某些实施例的特征的图1的PCCT的线性BLR的示例下冲效应的曲线图;
图4是示出根据本文所述的某些实施例的特征的具有不同峰值高度的理想化整形器电压的曲线图;
图5是示出根据本文所述的某些实施例的特征的在施加线性BLR之后具有不同峰值高度的理想化整形器电压的曲线图;
图6是示出根据本文所述的某些实施例的特征的线性和转换速率受限的BLR方法的波形的曲线图;
图7是示出根据本文所述的某些实施例的特征实现转换速率受限BLR的PCCT信号链的示例计数曲线的图;
图8是示出根据本文所述的某些实施例的特征的Δ脉宽调制器的操作原理的曲线图;
图9是根据本文所述的某些实施例的特征的包括Δ调制BLR电路的PCCT信号链的示意框图;
图10是示出根据本文所述的某些实施例的特征的图9的Δ调制的BLR的内部波形的曲线图;
图11是示出根据本文所述的某些实施例的特征启用非线性BLR的图9的PCCT信号链的示例计数曲线的曲线图;
图12A是根据本文所述的某些实施例的特征的采用时钟时间常数减小和斩波器稳定的Δ调制BLR电路的示意框图;
图12B示出了根据本文所述的某些实施例的特征的图12A的Δ调制BLR电路的关键波形的时序图;
图13A示出了根据本文描述的实施例的特征的包括自动归零能力的Δ调制BLR电路的示意框图;
图13B示出了根据本文所述的某些实施例的特征的图13A的Δ调制BLR电路的关键波形的时序图;
图14A示出了根据本文描述的实施例的特征的包括斩波器稳定的Δ调制BLR电路的示意框图。
图14B示出了根据本文所述的某些实施例的特征的图14A的Δ调制BLR电路的关键波形的时序图;
图15是根据本文所述的某些实施例的特征的PCCT扫描系统的简化图示;和
图16是根据本文所述的某些实施例的特征的可用于实现光子计数CT扫描系统的全部或部分的计算机系统的框图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国亚德诺半导体公司,未经美国亚德诺半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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