[实用新型]一种USB负载插入检测电路

说明书

本实用新型提供一种USB负载插入检测电路，包括USB母座、MOS管和三极管，所述USB母座的金属外壳接地，所述USB母座的电源负极依次通过第二电阻和第一电阻连接5V电源端，所述USB母座的电源正极通过所述MOS管连接5V电源端，所述MOS管的栅极连接所述第一电阻和第二电阻之间的连接点；高电平VCC依次连接三极管和第三电阻后接地，所述三极管的基极与所述MOS管的栅极连接，所述三极管的集电极还连接至主控MCU，主控MCU依据所述三极管的集电极电平状态判断是否有USB负载插入；具有不受USB接头类型及数据线上电平变化限制，同时减少USB负载设备插入时静电放电产生的瞬时大电流击穿USB负载设备的晶体管，延长USB负载设备的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及USB连接技术领域，具体的说，涉及了一种USB负载插入检测电路。

背景技术

USB负载设备插入到电脑时，需要电脑对USB负载设备的插入状态进行检测，现有的检测USB负载插入的方式，采用判断数据线的电平变化或者通过专用插头的检测引脚电平变化来判断是否有USB负载设备插入，对于缺少专用检测引脚或数据线未接入情况， USB负载设备在插入电脑后，电脑并不能及时检测到USB负载设备已插入，无法判断其状态，无法满足应用需求。

同时，由于现有的USB负载设备在插入电脑时，经常会有静电的产生，而这些静电具有击穿USB负载设备内零件的弊端，轻者则导致USB负载设备的使用寿命降低，严重的则导致USB负载设备失灵损坏。

为了解决以上存在的问题，人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足，从而提供一种的USB负载插入检测电路，不受USB接头类型及数据线上电平变化限制，同时减少USB负载设备插入时静电放电产生的瞬时大电流击穿USB负载设备的晶体管，延长USB负载设备的使用寿命。

为了实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种USB负载插入检测电路，包括USB母座、MOS管和三极管，所述USB母座的金属外壳接地，所述USB母座的电源负极依次通过第二电阻和第一电阻连接5V电源端，所述USB母座的电源正极通过所述MOS管连接5V电源端，所述MOS管的栅极连接所述第一电阻和第二电阻之间的连接点；

高电平VCC依次连接三极管和第三电阻后接地，所述三极管的基极与所述MOS管的栅极连接，所述三极管的集电极还连接至主控MCU，主控MCU依据所述三极管的集电极电平状态判断是否有USB负载插入。

本实用新型相对现有技术具有实质性特点和进步，具体的说，本实用新型利用MOS管和三极管组成了USB负载插入检测电路，利用USB负载插入时USB母座的电源负极电平的变化来作为检测信号，当所述USB母座没有USB负载设备插入时，USB母座的电源负极电平为高电平，所述三极管截止，所述三极管的集电极为低电平；当所述USB母座有USB负载设备插入时，USB母座的电源负极电平为低电平，所述三极管导通，所述三极管的集电极为高电平，由此检测出有USB负载设备插入；其具有不受接头类型及数据线上电平变化限制，电路简单，使用方便。

同时，由于MOS管的导通受三极管的控制，当因此可以减少USB负载设备插入时静电放电产生的瞬时大电流击穿USB负载设备的晶体管，延长USB负载设备的使用寿命。

附图说明

图1是本实用新型实施例1的电路示意图。

图2是本实用新型实施例2的电路示意图。

图3是本实用新型实施例3的电路示意图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

实施例1