[实用新型]一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖有效
| 申请号: | 202120898041.2 | 申请日: | 2021-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN214767468U | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
| 发明(设计)人: | 李友林;于淼 | 申请(专利权)人: | 大连英奇科技发展有限公司 |
| 主分类号: | B08B5/02 | 分类号: | B08B5/02;B08B13/00;G01B15/02 |
| 代理公司: | 沈阳工匠智诚知识产权代理事务所(普通合伙) 21256 | 代理人: | 孙楠 |
| 地址: | 116000 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 保持 射线 测厚仪 测量 清洁 | ||
1.一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,包括下盖底盘(1),其特征在于,所述下盖底盘(1)上固定安装有下盖连接柱(12),所述下盖连接柱(12)侧壁开设有螺纹槽(21),所述下盖连接柱(12)与所述下盖底盘(1)中心位置开设有T形口,所述下盖连接柱(12)中心且位于所述T形口上端固定安装有卡盘(17),所述卡盘(17)下壁固定安装有测厚器(18),所述测厚器(18)下端固定安装有感应器(8),所述测厚器(18)贯穿于所述T形口内,所述卡盘(17)中心位置开设有贯穿口,所述贯穿口内贯穿安装有连接线(16),所述连接线(16)一端与所述测厚器(18)内固定连接,所述下盖底盘(1)下壁安装有高度限位板(2),所述下盖连接柱(12)与所述下盖底盘(1)下壁开设有安装槽,所述安装槽的个数为四个,所述安装槽内与下盖底盘(1)下壁安装有驱动转动结构。
2.根据权利要求1所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述驱动转动结构包括一对第一滑槽(13),一对所述第一滑槽(13)开设于所述安装槽内侧壁,一对所述第一滑槽(13)上滑动连接有一对第一滑块(14),一对所述第一滑块(14)之间固定连接有齿条(4),所述齿条(4)一端与所述安装槽内壁通过复位弹簧(20)固定连接,所述齿条(4)一端贯穿于所述安装槽内,所述下盖底盘(1)下壁且位于所述安装槽一侧固定安装有连接件(19),所述连接件(19)的个数为四个,四个所述连接件(19)中的每两个之间转动连接有转轴(11),所述转轴(11)两端固定安装有齿轮(5),所述齿轮(5)与所述齿条(4)啮合连接,所述转轴(11)上连接有防护箱(9)移动结构。
3.根据权利要求2所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述防护箱(9)移动结构包括移动块(24),所述转轴(11)中心两侧开设有螺纹方向相反的螺纹条(23),所述移动块(24)内开设有螺纹孔,所述转轴(11)中心两侧的螺纹条(23)分别与所述移动块(24)螺纹孔旋接,所述移动块(24)侧壁均固定安装有连接杆(6),所述连接杆(6)均固定连接有防护箱(9)。
4.根据权利要求3所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述防护箱(9)上端固定安装有第二滑块(7),所述下盖下壁且位于所述下盖底盘(1)位置开设有第二滑槽(10),所述第二滑槽(10)与所述第二滑块(7)滑动连接。
5.根据权利要求3所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述转轴(11)中心位置固定安装有挡板(22)。
6.根据权利要求3所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述防护箱(9)的个数为两个,且所述防护箱(9)的高度大于所述感应器(8)贯穿端的长度,且所述高度限位板(2)的高度大于所述防护箱(9)的高度。
7.根据权利要求1所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述下盖底盘(1)的形状为长方体,所述高度限位板(2)的形状为正方体管状。
8.根据权利要求1所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述卡盘(17)与所述下盖连接柱(12)通过螺钉(15)固定连接。
9.根据权利要求2所述的一种可保持X光射线测厚仪测量头清洁度的下盖,其特征在于,所述齿条(4)下端固定安装有橡胶垫(3)。
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