[实用新型]用于电子芯片性能检测用测试座有效
| 申请号： | 202120572053.6 | 申请日： | 2021-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN214310785U | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 宋成龙;吴声亮 | 申请（专利权）人： | 深圳市蔚来芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广东中科华海知识产权代理有限公司 44668 | 代理人： | 曾弦 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 电子 芯片 性能 检测 测试 | ||
1.用于电子芯片性能检测用测试座，包括底座(5)和测试板(3)，其特征在于：所述测试板(3)的底面设有转换板(17)，且转换板(17)与测试板(3)的底面螺栓连接，且转换板(17)与测试板(3)电性连接，所述转换板(17)的底面设有探针板(8)，且探针板(8)与转换板(17)的底面螺栓连接，且探针板(8)与转换板(17)电性连接，所述测试板(3)的底面固定有卡合块(14)。
2.根据权利要求1所述的用于电子芯片性能检测用测试座，其特征在于：所述底座(5)的纵截面为L型，所述底座(5)的顶部固定有防护壳(1)，所述防护壳(1)的正面固定有控制器(2)，所述控制器(2)的正面镶嵌有显示屏(6)，所述控制器(2)的正面设有功能按钮(7)，且功能按钮(7)与控制器(2)活动连接，且功能按钮(7)与显示屏(6)电性连接。
3.根据权利要求1所述的用于电子芯片性能检测用测试座，其特征在于：所述底座(5)的正面设有安装板(16)，且安装板(16)与底座(5)正面螺栓连接，所述安装板(16)正面固定有升降气缸(13)，且升降气缸(13)的输出端与测试板(3)顶面固定连接。
4.根据权利要求1所述的用于电子芯片性能检测用测试座，其特征在于：所述底座(5)的顶面开设有滑槽(11)，且滑槽(11)贯穿底座(5)顶面，所述滑槽(11)内设有丝杆(12)，且丝杆(12)与底座(5)活动连接，所述底座(5)的背面固定有伺服电机(10)，且伺服电机(10)的输出端与丝杆(12)一端法兰连接，且伺服电机(10)与控制器(2)电性连接。
5.根据权利要求4所述的用于电子芯片性能检测用测试座，其特征在于：所述丝杆(12)的表面设有连接板(19)，且连接板(19)与丝杆(12)螺纹连接，且连接板(19)与滑槽(11)滑动连接，所述连接板(19)的顶部固定有滑板(20)，且滑板(20)与底座(5)顶面滑动连接。
6.根据权利要求5所述的用于电子芯片性能检测用测试座，其特征在于：所述滑板(20)的顶面设有承载模板(18)，且承载模板(18)与滑板(20)顶面螺栓连接，所述承载模板(18)的顶面开设有放置槽(15)，所述滑板(20)的顶面开设有卡合槽(4)。
7.根据权利要求1所述的用于电子芯片性能检测用测试座，其特征在于：所述底座(5)的内侧固定有传感器(9)，且传感器(9)与控制器(2)电性连接。
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