[发明专利]一种RE102辐射发射测试校验方法及系统

权利要求书

1.一种RE102辐射发射测试校验方法，其特征在于，包括：

向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；

将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；

根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在向第一测试设备发送测试辐射信号之前，所述方法还包括：生成所述测试辐射信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试辐射信号为信号频率范围为10kHz～1GHz的梳状谱信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述生成所述测试辐射信号，包括：

将10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、30MHz五个点频信号同时输出产生频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；

通过30MHz的点频信号激励梳状波产生器产生频率范围为30MHz～1GHz的梳状谱波。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

向第二测试设备发送所述测试辐射信号；所述第二测试设备与所述第一测试设备所处测试环境不同；

将第二测试设备接收到的第二辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第二辐射信号校验值；

根据所述第一辐射信号校验值与所述第二辐射信号校验值，对所述第一测试设备和所述第二测试设备的进行测试能力评估。

6.一种RE102辐射发射测试校验系统，其特征在于，包括：

信号发射装置，用于向第一测试设备发送测试辐射信号；所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号；

信号对比装置，用于将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比，获得第一辐射信号校验值；所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号；

结果校验装置，根据所述第一辐射信号校验值，对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：信号产生装置，用于生成所述测试辐射信号。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述信号产生装置具体用于将10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、30MHz五个点频信号同时输出产生频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；

通过30MHz的点频信号激励梳状波产生器产生频率范围为30MHz～1GHz的梳状谱波。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述信号发射装置包括可伸缩拉杆天线和固定长度的杆天线；其中，所述可伸缩拉杆天线所述与所述信号产生装置连接，用于发射频率范围为10kHz～30MHz梳状谱波；所述固定长度的杆天线与所述信号产生装置连接，用于发射频率范围为30MHz～1GHz梳状谱波。

10.根据权利要求6-9任意一项所述的系统，其特征在于，还包括内置供电装置。