[发明专利]一种温度敏感型芯片测试设备及其测试方法

说明书

本发明涉及芯片测试技术领域，且公开了一种温度敏感型芯片测试设备及其测试方法，包括测试设备本体、故障自停设备和定位槽，所述定位槽开设于测试设备本体的顶部，所述定位槽内壁的右侧开设有凹槽，所述凹槽的内部设置有定位机构，所述定位槽的内部插接有定位块，所述定位块的顶部与故障自停设备的底部固定连接，所述测试设备本体的内部设置有降温系统。本发明，通过设置测试设备本体、故障自停设备和降温系统的配合使用，这样就能够很好的保证内部的温度不会超标，使内部的温度始终一直，解决了故障自停和降温效果差的问题，该温度敏感型芯片测试设备及其测试方法，具备故障自停和降温效果好的优点。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种温度敏感型芯片测试设备及其测试方法。

背景技术

芯片测试设备，为了满足市场需求，一般都是往如何更好的检测和如何防止芯片损坏这些方面进行优化，往往忽略了是否能够很好的故障自停和降温，芯片测试设备具有，检测的效果更好和更方便使用者使用这些有益之处，但是有一定的限制，在正常使用时，往往内部出现故障时，不能够很好的自动停止，如果不能及时的停止，很容易造成芯片的检测不准确和损坏，同时内部的温度过高，很容易造成内部的零部件损坏，现有技术存在的问题是：故障自停和降温效果差。

发明内容

为解决上述背景技术中提出的问题，本发明的目的在于提供一种温度敏感型芯片测试设备及其测试方法，具备故障自停和降温效果好的优点，解决了故障自停和降温效果差的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种温度敏感型芯片测试设备，包括测试设备本体、故障自停设备和定位槽，所述定位槽开设于测试设备本体的顶部，所述定位槽内壁的右侧开设有凹槽，所述凹槽的内部设置有定位机构，所述定位槽的内部插接有定位块，所述定位块的顶部与故障自停设备的底部固定连接，所述测试设备本体的内部设置有降温系统。

作为本发明优选的，所述定位机构包括挤压块，所述挤压块的外表面与凹槽的内壁滑动连接，所述挤压块的左侧与定位块的外表面配合使用，所述挤压块的右侧固定连接有连接杆，所述连接杆的外表面螺纹连接有旋转筒，所述旋转筒的外表面配合使用有辅助机构，所述旋转筒的有固定安装有齿轮，所述齿轮的前侧啮合有推进杆，所述推进杆的顶部固定安装有推进手柄，所述推进手柄的顶部贯穿凹槽并延伸至测试设备本体的顶部。

作为本发明优选的，所述辅助机构包括环形槽，所述环形槽开设于旋转筒的外表面，所述环形槽的外表面配合使用有环形块，所述环形块的底部固定安装有条形块，所述条形块的底部与凹槽的内壁固定连接。

作为本发明优选的，所述凹槽内壁的前侧和后侧均开设有限位槽，所述挤压块的前侧和后侧均固定安装有限位块，两个限位块相背离的一端均与限位槽的内部滑动连接。

作为本发明优选的，所述降温系统包括水箱和降温波纹管，所述水箱的顶部与测试设备本体的底部固定连接，所述水箱的内部固定安装有水泵，所述降温波纹管位于测试设备本体的内部，所述降温波纹管两端的底部贯穿测试设备本体并延伸至水箱的内部，右侧所述降温波纹管的底部与水泵的出水口固定连接，所述降温波纹管的外表面配合使用有定位件。

作为本发明优选的，所述定位件包括方形块，所述方形块的后侧与测试设备本体的内壁固定连接，所述方形块前侧的右侧活动连接有弧形块，所述弧形块的内部与降温波纹管的外表面配合使用，所述弧形块的另一端固定安装有配合块，所述方形块前侧的左侧开设有与配合块配合使用的配合槽。

作为本发明优选的，所述弧形块的内部固定安装有防护块，所述防护块与降温波纹管的配合端开设有防滑纹。

作为本发明优选的，所述降温波纹管的外表面套设有防漏套，所述防漏套的为透明防漏套。

作为本发明优选的，述水箱的内部设置有水流冷凝器，所述水流冷凝器的底部与水箱的底部固定连接，所述水流冷凝器的左侧设置有档流板，所述档流板的右侧与水流冷凝器左侧的顶部固定连接。