[发明专利]一种全品规划箱机的控制系统及方法

权利要求书

1.一种全品规划箱机的控制系统，其特征在于，包括检测装置和控制箱；所述检测装置包括挡板到位检测组件、对中到位检测组件、压板到位检测组件；所述挡板到位检测组件，用于检测箱子是否到位与挡板接触，接触后触发；所述对中到位检测组件，用于检测箱子是否同时与对中部件两侧接触，接触后触发；所述压板到位检测组件，用于检测压板是否与箱子接触，接触后触发；

所述控制箱包括划中缝控制箱、侧戳控制箱、开上盖控制箱和开下盖控制箱；所述划中缝控制箱，用于在挡板到位检测组件触发后，发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中，发出对中打开执行指令，再发出测高执行指令，并以压板到位检测组件的触发结束测高；再次发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中；发出划中缝执行指令，划中缝结束后，发出对中和划刀复位指令，以及挡板下降指令，再发出测高复位指令，箱子输出后发出挡板复位指令；

所述侧戳控制箱，用于在挡板到位检测组件触发后，发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中，发出对中打开执行指令，再发出测高执行指令，并以压板到位检测组件的触发结束测高；再次发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中；发出测长执行指令，再发出侧戳执行指令，侧戳结束后，发出测长和对中复位指令，以及挡板下降指令，再发出测高复位指令，箱子输出后发出挡板复位指令；

所述开上盖控制箱，用于在挡板到位检测组件触发后，发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中，发出对中打开执行指令，再发出测高执行指令，并以压板到位检测组件的触发结束测高；再次发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中；发出开上盖执行指令，开上盖结束后，发出挡板和楔形刀板复位指令；

所述开下盖控制箱，用于在挡板到位检测组件触发后，发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中，发出对中打开执行指令，再发出测高执行指令，并以压板到位检测组件的触发结束测高；再次发出对中执行指令，并以对中到位检测组件的触发结束对中；发出开下盖执行指令，开下盖结束后，发出挡板和楔形刀板复位指令。

2.根据权利要求1所述的全品规划箱机的控制系统，其特征在于，在侧戳控制箱中，测长执行包括控制活动侧戳组件自动找正箱子尾部。

3.根据权利要求1所述的全品规划箱机的控制系统，其特征在于，在开上盖控制箱中，开上盖执行包括控制吸起上盖，将楔形刀板上升；再将吸盘松开，对中打开，测高压板复位，挡板下降。

4.根据权利要求1所述的全品规划箱机的控制系统，其特征在于，在开下盖控制箱中，开下盖执行包括控制吸起下盖，将楔形刀板下降；再将吸盘松开，对中打开，测高压板复位，挡板下降。

5.一种全品规划箱机的控制方法，其特征在于，基于权利要求1-4之一所述的全品规划箱机的控制系统，包括以下步骤：

步骤一：对箱子进行水平方向上的对中抱紧，抱紧后松开；再对箱子进行竖直方向上的测高压紧，压紧后再对中抱紧固定箱子；箱子固定后进行划中缝，划中缝结束后输出进入侧戳；

步骤二：对箱子进行水平方向上的对中抱紧，抱紧后松开；再对箱子进行竖直方向上的测高压紧，压紧后再对中抱紧固定箱子；箱子固定后进行侧戳，侧戳结束后输出进入开上盖；

步骤三：对箱子进行水平方向上的对中抱紧，抱紧后松开；再对箱子进行竖直方向上的测高压紧，压紧后再对中抱紧固定箱子；箱子固定后进行开上盖，开上盖结束后输出进入开下盖；

步骤四：对箱子进行水平方向上的对中抱紧，抱紧后松开；再对箱子进行竖直方向上的测高压紧，压紧后再对中抱紧固定箱子；箱子固定后进行开下盖，开下盖结束后输出，完成划箱。

6.根据权利要求5所述的全品规划箱机的控制方法，其特征在于，所述步骤一具体包括：

S10：检测箱子到达指定的位置，启动对中部件执行对中操作，完成对中，并控制对中部件分开；

S11：控制测高机构执行测高，测高压板下降将箱子压紧，对中部件再次执行对中操作；

S12：控制划刀伸出，执行划中缝；

S13：划中缝后，对中部件分开，划刀复位，挡板下降，压板上升，箱子输出，挡板复位。