[发明专利]荧光分析组件检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 202111297854.7 申请日: 2021-11-04
公开(公告)号: CN113933279B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 柳邦源;方桂锋;杨政;韦兴春 申请(专利权)人: 珠海丽珠试剂股份有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N33/53;G01N21/01
代理公司: 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 代理人: 董艳芳
地址: 519000 广东省珠海市香*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 荧光 分析 组件 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种荧光分析组件检测装置,其特征在于,包括电源组件(1)、合格光源(2)、合格光检测板(3)和控制组件;

所述合格光源(2)、所述合格光检测板(3)和目标荧光分析组件(4)均与所述电源组件(1)连接;所述合格光源(2)用于向目标荧光分析组件(4)内的位于所述合格光源(2)光路上的目标光检测板(40)发射光线,所述目标光检测板(40)用于接收该光线并将其转化为第一信号;所述合格光检测板(3)用于设置在目标荧光分析组件(4)内的目标光源(41)的光路上,以接收所述目标光源(41)发射的光线并将该光线转化为第二信号;

所述控制组件设有第一标准信号和第二标准信号,所述目标光检测板(40)与所述控制组件连接,所述控制组件用于接收所述第一信号,并将其与所述第一标准信号进行对比以判断所述目标光检测板(40)是否符合标准;所述合格光检测板(3)与所述控制组件连接,所述控制组件用于接收所述第二信号,并将其与所述第二标准信号进行对比以判断所述目标光源(41)是否符合标准;

所述控制组件包括存储器,所述存储器用于在所述目标光检测板(40)接收所述目标光源(41)发射的光线且将该光线转化为第三信号时,记录所述第三信号与所述第一信号之间的差值以作为补偿值。

2.根据权利要求1所述的荧光分析组件检测装置,其特征在于,所述荧光分析组件检测装置还包括箱体(5),所述箱体(5)顶部设有卡接孔(50),所述卡接孔(50)用于卡接目标荧光分析组件(4);

所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)均安装于所述箱体(5)内,且均位于所述卡接孔(50)的一侧,所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)分别能够与所述卡接孔(50)处的目标荧光分析组件(4)的光路出口(44)相互面对。

3.根据权利要求2所述的荧光分析组件检测装置,其特征在于,所述箱体(5)内安装有位于所述卡接孔(50)一侧的支撑容器(6),所述支撑容器(6)内形成有检测腔(60);

所述支撑容器(6)的顶部设有与所述检测腔(60)连通的第一穿孔(61),所述第一穿孔(61)与所述卡接孔(50)连通,所述检测腔(60)用于容纳所述卡接孔(50)处的目标荧光分析组件(4);

所述支撑容器(6)底部设有与所述检测腔(60)连通的第二穿孔(62),所述第二穿孔(62)用于与所述检测腔(60)内的目标荧光分析组件(4)的光路出口(44)连通。

4.根据权利要求3所述的荧光分析组件检测装置,其特征在于,所述检测腔(60)内安装有分隔板(63)以将所述检测腔(60)划分为第一检测腔(630)和第二检测腔(631),所述第一检测腔(630)和所述第二检测腔(631)分别用于容纳所述目标荧光分析组件(4);

所述支撑容器(6)的顶部的与所述第一检测腔(630)对应的位置以及与所述第二检测腔(631)对应的位置,均设有所述第一穿孔(61);所述支撑容器(6)的底部的与所述第一检测腔(630)对应的位置以及与所述第二检测腔(631)对应的位置,均设有所述第二穿孔(62);

所述合格光源(2)用于安装在所述第一检测腔(630)的第二穿孔(62)处,所述合格光检测板(3)用于安装在第二检测腔(631)的第二穿孔(62)处。

5.根据权利要求2所述的荧光分析组件检测装置,其特征在于,所述箱体(5)的顶部开设有位于所述卡接孔(50)一侧的供电孔(51);

所述电源组件(1)包括相互连接的电源本体和电源接头,所述电源本体安装于所述箱体(5)内,所述电源接头安装于所述供电孔(51)内;

所述电源接头与目标荧光分析组件(4)可拆卸电连接。

6.根据权利要求2所述的荧光分析组件检测装置,其特征在于,所述荧光分析组件检测装置还包括转换组件,所述转换组件安装于所述箱体(5)内;

所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)均与所述转换组件的输出端连接,所述转换组件用于驱动所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)择一与所述卡接孔(50)处的目标荧光分析组件(4)的光路出口(44)相互面对。

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