[发明专利]断裂检测装置及断裂检测方法

说明书

本申请提供一种断裂检测装置及断裂检测方法，涉及检测装置技术领域，用于解决OLED显示面板弯折区内走线断裂的检测效率低、检测准确性低的技术问题。该断裂检测装置包括：支撑台、加热装置、拍摄装置和处理器；支撑台用于承载OLED显示面板，加热装置用于对放置在支撑台上OLED显示面板的弯折区加热，拍摄装置用于采集OLED显示面板弯折区的红外图像；处理器与拍摄装置信号连接，处理器对红外图像进行断裂分析；当处理器从红外图像中提取到边缘特征时，确定弯折区的走线断裂。通过将走线的断裂信息转化为走线的热量信息，并通过处理器对热量信息进行分析，判断走线是否断裂，不易出现漏检误判，提高了检测效率和检测准确性。

技术领域

本申请涉及检测装置技术领域，尤其涉及一种断裂检测装置及断裂检测方法。

背景技术

有机发光显示面板(Organic Light Emitting Display，简称OLED)具有自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性基板上等多种特点，越来越多地被应用于高性能显示领域如柔性显示装置中。

随着显示技术的进步，OLED显示面板向窄边框甚至无边框发展，为了实现窄边框甚至无边框，通常采用焊盘弯曲(Pad bending)的方法减少OLED显示面板的边框宽度，以提高OLED显示面板的屏占比。如图1所示，OLED显示面板100包括显示区110、焊盘区120和弯折区130，焊盘区120位于显示区110的背面，弯折区130的一端连接显示区110，弯折区130的另一端连接焊盘区120，弯折区130内通常设置有多条走线，以将显示区110和焊盘区120信号连接。当弯折区130具有较小的弯折半径R时，弯折区130内的走线易发生断裂，进而导致OLED显示面板的显示区110出现显示不良的情况。

相关技术中，通常由人工进行检查OLED显示面板100的弯折区130内走线是否断裂，这种方式检测效率低，且检测准确性低。

发明内容

鉴于上述问题，本申请实施例提供一种断裂检测装置及断裂检测方法，以提高检测效率和检测准确性。

为了实现上述目的，本申请实施例提供如下技术方案：

本申请实施例的第一方面提供一种断裂检测装置，所述断裂检测装置用于检测OLED显示面板的弯折区内走线是否断裂，所述断裂检测装置包括：支撑台、加热装置、拍摄装置和处理器；所述支撑台用于承载所述OLED显示面板，所述加热装置用于对放置在所述支撑台上所述OLED显示面板的弯折区加热，所述拍摄装置用于采集所述OLED显示面板弯折区的红外图像；所述处理器与所述拍摄装置信号连接，所述处理器对所述红外图像进行断裂分析；当所述处理器从所述红外图像中提取到边缘特征时，确定所述弯折区的走线断裂。

当采用本申请实施例提供的断裂检测装置检测OLED显示面板时，将OLED显示面板放置在支撑台，并通过加热装置对OLED显示面板的弯折区加热，以使弯折区的走线受热产生热辐射，通过拍摄装置根据弯折区的辐射信息采集其红外图像，处理器对红外图像进行断裂分析，当处理器从红外图像中提取到边缘特征时，确定弯折区的走线断裂。通过将走线的断裂信息转化为走线的热量信息，并通过处理器对热量信息进行分析，判断走线是否断裂，相较于相关技术中的人工检测，采用本申请实施例提供的断裂检测装置进行检测，提高了检测效率，而且不易出现漏检误判，提高了检测准确性。

在一种可能的实现方式中，所述支撑台设置有通孔，所述通孔与所述弯折区相对，所述加热装置设置在所述支撑台的下方且与所述通孔相对。

在一种可能的实现方式中，所述加热装置包括激光发生器，所述激光发生器发出的线光源穿过所述通孔照射在所述弯折区。

在一种可能的实现方式中，所述支撑台的底部设置有用于支撑所述支撑台的数个支撑腿；所述支撑台的底部连接有支撑杆，所述支撑杆位于数个所述支撑腿所围合的空间内，所述支撑杆上套设有沿所述支撑杆进行升降移动的滑块，所述加热装置安装在所述滑块上。