[发明专利]计轴设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110722143.3 申请日: 2021-06-28
公开(公告)号: CN113553698A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 蔚彦昭;袁重阳;骆正新;张志鹏;杨艳京;于磊;郑潮洋 申请(专利权)人: 通号城市轨道交通技术有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 陈新生
地址: 100070 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 设备 性能 评估 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

发明提供一种计轴设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质,计轴设备性能评估方法包括:接收计轴发送的多个数据包;其中,所述计轴包括第一计轴和第二计轴,且所述第一计轴是参考计轴,所述第二计轴是待评估计轴;基于所述多个数据包,得到目标时间段内对应计轴的总占用次数和总轴数;基于所述第一计轴的总占用次数和总轴数,以及所述第二计轴的总占用次数和总轴数,得到所述第二计轴的性能评估结果。本发明提供的计轴设备性能评估方法,可以实现对计轴设备的性能进行直观评估,得到直观的计轴设备性能评估结果。

技术领域

本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种计轴设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在现代CBTC(Communication Based Train Control System,基于通信的列车自动控制系统)信号系统中,当CBTC列车失去通信或与非CBTC列车混合运营时,为保障运营安全,需要设置计轴等次级检测设备作为后备系统。在使用计轴设备时,需要对计轴设备的性能进行评估。目前,暂未找到可以直观评估计轴设备性能的方法,大多是基于硬件层面的评估,无法直观得到计轴设备性能评估结果。

发明内容

本发明提供一种计轴设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质,用以实现对计轴设备的性能进行直观评估,得到直观的计轴设备性能评估结果。

本发明提供一种计轴设备性能评估方法,包括:

接收计轴发送的多个数据包;其中,所述计轴包括第一计轴和第二计轴,且所述第一计轴是参考计轴,所述第二计轴是待评估计轴;

基于所述多个数据包,得到目标时间段内对应计轴的总占用次数和总轴数;

基于所述第一计轴的总占用次数和总轴数,以及所述第二计轴的总占用次数和总轴数,得到所述第二计轴的性能评估结果。

根据本发明提供的计轴设备性能评估方法,所述基于所述多个数据包,得到目标时间段内对应计轴的总占用次数和总轴数,包括:

基于所述多个数据包,得到计轴区段状态数据组和计轴区段轴数组;其中,所述计轴区段状态数据组包括多个计轴区段状态数据,所述计轴区段轴数组包括多个计轴区段轴数;所述计轴区段状态数据包括区段占用状态或者区段空闲状态;

基于所述计轴区段状态数据组中多组相邻两计轴区段状态数据,得到对应计轴的总占用次数;

基于所述计轴区段状态数据组中多组相邻两计轴区段状态数据,以及所述计轴区段轴数组中多组相邻两计轴区段轴数,得到对应计轴的总轴数。

根据本发明提供的计轴设备性能评估方法,所述基于所述计轴区段状态数据组中多组相邻两计轴区段状态数据,得到对应计轴的总占用次数,包括:

在所述相邻两计轴区段状态数据中,前一个计轴区段状态数据为区段空闲状态,后一个计轴区段状态数据为区段占用状态,或者初始计轴区段状态数据为区段占用状态且初始计轴区段轴数为1的情况下,确定所述相邻两计轴区段状态数据满足计数开始条件;

基于所述计轴区段状态数据组中,满足所述计数开始条件的相邻两计轴区段状态数据的组数,得到对应计轴的总占用次数。

根据本发明提供的计轴设备性能评估方法,所述接收计轴发送的多个数据包,包括:

接收计轴基于目标频率发送的多个数据包,或者接收计轴在计轴状态改变的情况下发送的多个数据包;

所述在所述相邻两计轴区段状态数据中,前一个计轴区段状态数据为区段空闲状态,后一个计轴区段状态数据为区段占用状态,或者初始计轴区段状态数据为区段占用状态且初始计轴区段轴数为1的情况下,确定所述相邻两计轴区段状态数据满足计数开始条件,包括:

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