[发明专利]一种电力芯片内时钟信号的自动校准装置及其方法

说明书

本发明公开了一种电力芯片内时钟信号的自动校准装置及其方法，所述装置包括中测机台、待校准晶振、振荡器、测试控制模块、校准模块、参数调整模块；所述中测机台的信号输出端与待校准晶振连接，所述待校准晶振的第一信号输出端与振荡器的输入端连接，所述振荡器的输出端与所述测试控制模块的输入端连接，所述测试控制模块与校准模块连接，所述校准模块的输出端与所述参数调整模块的输入端连接，所述参数调整模块的输出端与所述中测机台的信号输入端连接。本发明实施例通过测试控制模块、校准模块和参数调整模块的配合，能够实现对电力芯片内时钟信号的自动校准；并通过对电力芯片内时钟信号的频率和相位进行双重调整，进一步提高校准的准确性。

技术领域

本发明涉及时钟校准技术领域，尤其涉及一种电力芯片内时钟信号的自动校准装置及其方法。

背景技术

在芯片面向电力系统的应用中，由于电力应用方案的高度复杂性，因而对芯片的控制精度存在很高的要求。时钟是生活中常用的一种计时器，人们通过它来记录时间。时序电路内部的时钟则起到对整个电路计时的作用，这样则需要一种高精度的电力芯片内部时钟作为电路计时的工具。然而一般的时钟在使用时间较长之后，由于外部因素的影响，造成时间出现偏差，从而影响芯片的正常工作。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种电力芯片内时钟信号的自动校准装置及其方法，能够实现对电力芯片时钟信号的自动校准，并进一步提高校准的准确性。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种电力芯片内时钟信号的自动校准装置，包括中测机台、待校准晶振、振荡器、测试控制模块、校准模块、参数调整模块；所述中测机台的信号输出端与所述待校准晶振连接，所述待校准晶振的第一信号输出端与所述振荡器的输入端连接，所述振荡器的输出端与所述测试控制模块的输入端连接，所述测试控制模块与所述校准模块连接，所述校准模块的输出端与所述参数调整模块的输入端连接，所述参数调整模块的输出端与所述中测机台的信号输入端连接。

作为上述方案的改进，所述待校准晶振还连接有处理模块和储存模块，所述处理模块的输入端与所述待校准晶振的第二信号输出端连接，所述储存模块的输入端与所述待校准晶振的第二信号输出端连接。

作为上述方案的改进，所述测试控制模块还连接有对比模块和信号收发模块，所述对比模块的输入端与所述测试控制模块的输出端连接，所述信号收发模块的输入端与所述测试控制模块的输出端连接。

作为上述方案的改进，所述对比模块还连接有数据储存器，所述数据储存器与所述信号收发模块连接，且所述数据储存器的内部设置有时间模块。

作为上述方案的改进，所述校准模块还连接有接收模块和振荡模块，所述接收模块的输入端与所述校准模块的输出端连接，所述振荡模块的输入端与所述校准模块的输出端连接。

作为上述方案的改进，所述振荡模块的调整频率小于所述振荡器的调整频率。进一步的，

本发明实施例还提供了一种电力芯片内时钟信号的自动校准方法，所述方法应用于上述任意一项所述的电力芯片内时钟信号的自动校准装置，所述方法包括：

接收中测机台发出的测试指令；

对待校准晶振进行自校准，使芯片内时钟信号的频率与所述待校准晶振相同，并将所述芯片内时钟信号发送至测试控制模块；

通过所述测试控制模块对所述芯片内时钟信号的频率进行测试，并将测试通过的时钟信号发送至校准模块；

通过所述校准模块对所述测试通过的时钟信号的相位进行校准，并将校准后的时钟信号发送至参数调整模块；

通过所述参数调整模块对影响时钟信号相位的参数进行调整，并将调整后的时钟信号发送至中测机台；

根据所述调整后的时钟信号对所述待校准晶振进行调整，即可完成芯片内时钟信号的自动校准。