[发明专利]一种电子分划装表精度标定方法及系统有效

专利信息
申请号: 202110595483.4 申请日: 2021-05-29
公开(公告)号: CN113310351B 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 祁海军;赵金博;翟漫;魏洪苗;王卓;高旭辉 申请(专利权)人: 北京波谱华光科技有限公司
主分类号: F41G1/16 分类号: F41G1/16
代理公司: 天津博润嘉泓知识产权代理事务所(普通合伙) 12232 代理人: 李钊博
地址: 100015 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子 分划装表 精度 标定 方法 系统
【说明书】:

发明涉及一种电子分划装表精度标定方法及系统,其方法包括,将整个视场平均划分为对称的四个子视场,在任一子视场内进行S型线测试得到经纬仪数据;对经纬仪数据进行数据拟合得到像素点的密位值;将整个视场图像划分为多个区块,分别为每个区块设置对应的密位转换参数;根据像素点的密位值计算出该像素点的弹着点密位偏移值;基于该像素点所在区块的密位转换参数将该像素点的弹着点密位偏移值转换成弹着点密位偏移值坐标。本发明仅测试部分瞄具视场,能够有效的在保证测试效果的情况下提高测试效率;在不同的区块中设对应的密位转换参数,将每一像素对应相应的角度进行换算,极大弥补了镜头畸变带来的误差,使得电子分划的装表精度得以提高。

技术领域

本发明涉及瞄具标定领域,具体涉及一种电子分划装表精度标定方法及系统。

背景技术

瞄具,用于帮助使用者准确、方便、快速地命中目标。为达到这一目的,一般使用分划来帮助使用者定位目标,并提供距离测量等其他的辅助。瞄具的瞄准能力是衡量瞄具性能的关键指标,装表量对应瞄具所瞄准目标的距离,以密位为单位,如果瞄具装表量值不稳定不精确,将直接影响武器系统的命中误差。因此,对电子分划装表精度进行标定就尤为重要。

装表精度是瞄具定型试验阶段的关键评判指标,它衡量了瞄具显示系统所标定的角位移与目标实际偏离瞄线的角位移的精度误差。目前,装表精度的标定方法通常采用读取高精度的二维转台转动量的方式,但这种方法不可避免的受限于二维转台所存在的步进电机步长、齿轮空回、电脉冲丢等现场所造成的较大的误差,而且电动二维转台需在计算机或控制器的操控下以一定细分步长,不断逼近对准,这种操作流程存在一定的操作难度,标定效率较低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种电子分划装表精度标定方法及系统,在提高标定效率的同时还可以提高标定精度。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种电子分划装表精度标定方法,包括以下步骤;

S1,将瞄具的整个视场平均划分为对称的四个子视场,在任一子视场内,通过经纬仪进行S型线测试,得到S型线上均匀分布的各测试点的经纬仪数据;

S2,对各测试点的经纬仪数据进行数据拟合,得到整个视场图像像素点的密位值;

S3,将整个视场图像划分为多个区块,分别为每个区块设置对应的密位转换参数;

S4,根据整个视场图像中任一像素点的密位值,计算出该像素点的弹着点密位偏移值;

S5,基于该像素点所在区块的密位转换参数,将该像素点的弹着点密位偏移值转换成弹着点密位偏移值坐标;

S6,基于该像素点的弹着点密位偏移值坐标,标定该像素点的弹着点坐标。

在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。

进一步,在所述S1中,将瞄具的整个视场平均划分为对称的四个子视场的具体实现为,采用十字交叉的第一划分轴和第二划分轴将瞄具的整个视场平均划分为对称的四个子视场,第一划分轴与第二划分轴的交叉点为瞄具的电子分划中心。

进一步,在所述S1中,通过经纬仪进行S型线测试的具体步骤为,

S11,调整经纬仪,使经纬仪在水平和竖直方向上处于调平状态;

S12,将处于调平状态的经纬仪对准瞄具,使经纬仪的电子分划中心与瞄具的电子分划中心重合,记录此时经纬仪的读数;

S13,以瞄具的电子分划中心为起始点,保持第二划分轴的坐标值不变,以预设步长向第一划分轴的第一预设方向移动经纬仪的电子分划至当前测试点,调整经纬仪,使经纬仪的电子分划中心与瞄具的电子分划中心重合,记录此时经纬仪的读数;

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