[发明专利]行锤击检测和避免有效

专利信息
申请号: 202110418674.3 申请日: 2021-04-19
公开(公告)号: CN114283863B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: E·L·蒲柏;M·K·本尼迪克特 申请(专利权)人: 慧与发展有限责任合伙企业
主分类号: G11C11/4078 分类号: G11C11/4078
代理公司: 北京市汉坤律师事务所 11602 代理人: 初媛媛;吴丽丽
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 行锤击 检测 避免
【权利要求书】:

1.一种用于检测存储器中的行锤击的装置,所述存储器包括布置成多行的用于存储数据的多个存储器单元,所述装置包括:

多个检测单元,所述多个检测单元位于存储器单元的所述多行中的主体行中,所述检测单元将被设置为相应的初始状态,并被配置为响应于存储器单元的相邻行中的存储器单元的激活而转变为不同于其初始状态的状态,其中所述主体行中的检测单元具有比所述主体行中的标称存储器单元更低的电荷容量;

单元读取电路,所述单元读取电路用于以确定的间隔读取所述检测单元的状态;

比较电路,所述比较电路用于将所述检测单元的读取状态与所述检测单元的初始状态进行比较,并确定所述检测单元中的任何检测单元是否具有不同于其对应的初始状态的当前状态;以及

触发电路,所述触发电路用于基于检测到所述主体行中的检测单元具有不同于其对应的初始状态的当前状态,触发对所述主体行中的所述存储器单元的刷新。

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述主体行中的所述检测单元被配置为响应于存储器单元的所述相邻行中的存储器单元的激活,比所述主体行中的所述存储器单元更快地转变状态。

3.根据权利要求1所述的装置,其中所述多个检测单元中的所述检测单元分布在跨所述主体行的不同位置处。

4.根据权利要求1所述的装置,其中所述触发电路仅在大多数检测单元已经从其初始状态改变状态之后触发对所述存储器单元的所述刷新。

5.根据权利要求1所述的装置,其中所述触发电路仅在数量大于阈值数量的检测单元已经从其初始状态改变状态之后触发对所述存储器单元的所述刷新。

6.根据权利要求1所述的装置,其中所述主体行中的检测单元具有比所述主体行中的标称存储器单元的电荷容量低20-25%的电荷容量。

7.一种检测存储器中的行锤击的方法,所述存储器包括布置成多行的用于存储数据的多个存储器单元以及存储器单元的所述多行中的主体行中的多个检测单元,所述检测单元将被设置为相应的初始状态,所述方法包括:

将存储器单元的所述多行中的主体行中的多个检测单元初始化为已知的初始状态,其中所述多个检测单元被配置为响应于存储器单元的相邻行中的存储器单元的激活而转变为不同于其初始状态的状态;

以确定的间隔读取所述检测单元的状态;

将所述检测单元的读取状态与所述检测单元的所述初始状态进行比较,并确定所述检测单元中的任何检测单元是否具有不同于其对应的初始状态的当前状态;以及

基于检测到所述主体行中的检测单元具有不同于其对应的初始状态的当前状态,刷新所述主体行中的所述存储器单元,

其中所述主体行中的检测单元具有比所述主体行中的标称存储器单元更低的电荷容量。

8.根据权利要求7所述的方法,其中所述主体行中的所述检测单元被配置为响应于存储器单元的所述相邻行中的存储器单元的激活,比所述主体行中的所述存储器单元更快地转变状态。

9.根据权利要求7所述的方法,其中所述多个检测单元中的所述检测单元分布在跨所述主体行的不同位置处。

10.根据权利要求7所述的方法,其中刷新包括:仅在大多数检测单元已经从其初始状态改变状态之后触发对所述存储器单元的刷新。

11.根据权利要求7所述的方法,其中刷新包括:仅在数量大于阈值数量的检测单元已经从其初始状态改变状态之后触发对所述存储器单元的刷新。

12.根据权利要求7所述的方法,其中所述主体行中的检测单元具有比所述主体行中的标称存储器单元的电荷容量低20-25%的电荷容量。

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