[实用新型]一种手工磨制金相试样的夹持工具

说明书

本实用新型公开了一种手工磨制金相试样的夹持工具，包括基准板、第一平板、第二平板、螺栓、中心通孔、螺母、定位柱、定位通孔和限位件，所述基准板的上方设置有第一平板，所述第一平板的前侧设置有第二平板，所述第一平板和第二平板的前侧壁左右两端均开设有中心通孔，所述第二平板的前侧左右两侧均设置有螺栓，所述第一平板的后侧左右两端均设置有螺母，所述第二平板的底部左右两侧对称固接有定位柱，所述基准板的顶部前侧左右两端均开设有与定位柱相配合的定位通孔，所述第二平板上的两组中心通孔的前侧均设置有限位件，本实用新型结构设计合理，装置简单，操作方便，能够保证薄壁试样边缘制备质量满足检测要求。

技术领域

本实用新型涉及金相试样加工技术领域，具体涉及一种手工磨制金相试样的夹持工具。

背景技术

金相检验最基础的环节就是试样制备，根据标准要求切去取有代表性的试样，后面经过数道砂纸磨制，砂纸越来越细，每次磨制的试样都需要将上次磨制的磨痕覆盖掉，才能到达要求，最后抛光处理。

对于生产制造厂或科研单位，目前普遍采用手工磨制试样，对于薄壁试样，需要检测边缘区域时，对制样的边缘平整度要求极高,用手指直接捏住试样进行磨制时，因为需要多次更换砂纸，造成用力不均等问题，待检试样肉眼观察试样做的很完美，无倒角和划痕，但常常会出现显微镜下观察，试样边缘出现倒角现象，而对于类似于喷丸、渗碳这样经过表面处理的产品检验，会直接影响检测的准确性，因产生表面喷丸层的厚度一般要求60чm合格，若磨制试样边缘模糊，基本就看不到喷丸层了或者能够观察到的喷丸层厚度缩小，不能满足检测要求，为此，我们提出一种手工磨制金相试样的夹持工具。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述问题，提供一种手工磨制金相试样的夹持工具，装置简单，操作方便，能够保证薄壁试样边缘制备质量满足检测要求。

为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型是通过以下技术方案实现：

一种手工磨制金相试样的夹持工具，包括基准板、第一平板、第二平板、螺栓、中心通孔、螺母、定位柱、定位通孔和限位件，所述基准板的上方设置有第一平板，所述第一平板的前侧设置有第二平板，所述第一平板和第二平板的前侧壁左右两端均开设有中心通孔；

所述第二平板的前侧左右两侧均设置有螺栓，所述第一平板的后侧左右两端均设置有螺母，所述第二平板的底部左右两侧对称固接有定位柱，所述基准板的顶部前侧左右两端均开设有与定位柱相配合的定位通孔，所述第二平板上的两组中心通孔的前侧均设置有限位件。

优选地，上述用于手工磨制金相试样的夹持工具中，所述限位件是由两组V形块组合而成，两组所述V形块关于中心通孔上下对称，且V形块与第二平板相固接，便于配合螺栓的六角端头对插入到中心通孔中的螺栓进行限位固定。

优选地，上述用于手工磨制金相试样的夹持工具中，所述基准板的顶部、所述第一平板和第二平板的底部均为镜面处理，降低粗糙度，便于提供精准的基准面。

优选地，上述用于手工磨制金相试样的夹持工具中，所述第一平板和第二平板的长度均为35～45mm，所述第一平板和第二平板的宽度均为3～5mm，所述第一平板和第二平板的高度均为10～20mm，使得第一平板和第二平板具有较小的体积，方便对它们的拿取使用。

优选地，上述用于手工磨制金相试样的夹持工具中，所述中心通孔的圆心在第一平板的二分之一高度处，所述中心通孔的孔半径为3～5mm，左侧所述中心通孔的圆心到第一平板左侧边的水平距离和右侧所述中心通孔的圆心到第一平板右侧边的水平距离均为2～4mm，便于对试样在第一平板和第二平板之间时，在长度方向上拥有足够长的存放空间。

优选地，上述用于手工磨制金相试样的夹持工具中，所述螺栓的长度为20～30mm，螺栓不能太长，避免造成手不容易握住夹具和试样。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：