[实用新型]一种探针弯折装置有效
| 申请号： | 202020219309.0 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN212111534U | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 王英贤 | 申请（专利权）人： | 上海依然半导体测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 探针 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种探针弯折装置，其特征在于，包括：底板(100)、滑块(200)和测量板(300)，所述底板(100)的顶端开设有两个滑槽(110)，两个所述滑槽(110)内均活动连接有滑块(200)，两个所述滑块(200)的一侧均开设有第一凹孔(210)和第二凹孔(220)，所述底板(100)的一侧固定安装有测量板(300)，所述测量板(300)为半圆形结构，所述测量板(300)上设置有刻度(310)。
2.根据权利要求1所述的一种探针弯折装置，其特征在于，所述底板(100)的顶端开设有矩形凹槽(120)。
3.根据权利要求1所述的一种探针弯折装置，其特征在于，两个所述第一凹孔(210)为相互匹配的半圆柱形结构，两个所述第二凹孔(220)为相互匹配的矩形结构。
4.根据权利要求1所述的一种探针弯折装置，其特征在于，两个所述滑块(200)的顶端均开设有扣拉槽(230)。
5.根据权利要求1所述的一种探针弯折装置，其特征在于，所述刻度(310)为180度的角度刻度(310)。
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