[发明专利]背照式图像传感器及制备方法有效
| 申请号: | 202011592644.6 | 申请日: | 2020-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN112582439B | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
| 发明(设计)人: | 周阳 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;尹一凡 |
| 地址: | 201800 上海市嘉定*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 背照式 图像传感器 制备 方法 | ||
1.一种背照式图像传感器,其特征在于,包括:
半导体衬底,具有第一导电类型,所述半导体衬底具有第一面和与所述第一面相对的第二面;
第二导电类型外延层,覆盖所述半导体衬底的第一面;
光电二极管,位于第二导电类型外延层内;
第一导电类型电荷积累区和第二导电类型沟道区,分别位于所述光电二极管表面,且所述第二导电类型沟道区环绕所述第一导电类型电荷积累区;
隔离环,环绕所述光电二极管和所述第二导电类型沟道区,且贯穿所述半导体衬底和所述第二导电类型外延层;
第一导电类型源区,沿所述隔离环内壁,自所述第二导电类型沟道区表面延伸至所述第二导电类型沟道区内,且环绕所述第一导电类型电荷积累区,所述第二导电类型沟道区隔离所述第一导电类型源区和所述第一导电类型电荷积累区;
栅极,覆盖所述第一导电类型电荷积累区表面,且沿第一方向延伸越过所述第二导电类型沟道区表面,直至所述第一导电类型源区的表面;其中,
所述光电二极管包括第二导电类型感光区和第一导电类型感光区,所述第一导电类型感光区位于所述第二导电类型感光区上,且覆盖所述第二导电类型感光区表面。
2.如权利要求1所述的背照式图像传感器,其特征在于,还包括:感光器件和遮光层,分别位于所述半导体衬底的第二面,其中,所述感光器件对应覆盖所述光电二极管,所述遮光层环绕所述感光器件,且对应覆盖所述隔离环。
3.如权利要求1所述的背照式图像传感器,其特征在于,所述隔离环包括第一沟槽隔离环和第二沟槽隔离环,所述第一沟槽隔离环自所述第二导电类型外延层表面延伸至所述第二导电类型外延层内;所述第二沟槽隔离环自所述半导体衬底的第二面贯穿所述半导体衬底,且延伸至所述第二导电类型外延层内;所述第二沟槽隔离环的底面和所述第一沟槽隔离环的底面相连。
4.如权利要求3所述的背照式图像传感器,其特征在于,所述第一沟槽隔离环的顶面高于所述第二导电类型外延层表面。
5.如权利要求3所述的背照式图像传感器,其特征在于,所述第一沟槽隔离环的底面与所述半导体衬底第一面的垂直距离小于所述光电二极管的底面与所述半导体衬底第一面的垂直距离。
6.如权利要求1所述的背照式图像传感器,其特征在于,第一导电类型为P型时,第二导电类型为N型;第一导电类型为N型时,第二导电类型为P型。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司,未经上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





