[发明专利]存储设备仿真测试系统及方法

说明书

本发明涉及一种存储设备仿真测试系统及方法，主要用于大容量存储设备的仿真测试，包括：对存储设备的多项参数进行模拟；根据所述参数配置生成对应的测试用例，测试用例包括指令及数据；根据测试用例将数据及指令转换解析为符合写入要求的数据及指令，并执行写入；对写入结果进行反馈，以及，对写入结果进行分析并生成测试报告。本发明的有益效果为：准确模拟FTL与NANDFlash的通讯时序，进而完成异步操作的模拟；仿真器存储模拟设计采用分布式设计，解决单一计算机存储空间难以模拟超大容量存储产品问题；网络通信的引入降低了FTL与仿真器间的耦合度，提到了整个仿真测试系统的可扩展性。

技术领域

本发明涉及计算机数据处理领域，具体涉及了一种存储设备仿真测试系统及方法。

背景技术

随着存储领域技术的发展，NAND Flash存储器由于具有容量大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，在各领域得到了越来越广泛的应用。然而， NAND FLASH芯片从设计到最后到产品化整个研发周期非常长，这使得基于 NAND Flash开发程序时，开发周期变得更为漫长。同时，不同厂家，不同类型的存储颗粒，特性变化曲线和错误发生曲线以及分布都不相同。当存储产品进入测试阶段时，存储颗粒错误的随机性(不可控)以及触发颗粒特性周期过长等问题，都会导致对存储产品很难达到全面有效的测试，尤其是一些错误的叠加和嵌套场景，难以测试到，可能导致存储产品的缺陷无法发现。而且，这些特性以及错误往往不可控制，也很难复现，给存储产品的开发及调试都带来了极大的挑战。

在现有的技术方案中，为解决上述问题会通过引入NAND Flash仿真器来加速存储产品的研发周期及测试。这些测试方案在进行仿真时，考虑了NAND操作序列、NAND bit翻转特性及存储颗粒文件化等方面，在尽可能接近NAND Flash的同时，为存储产品的开发和调试提供了便利。然而，这些方案存在着如下的问题：

(1)未考虑仿真器与存储产品的FTL(Flash translation layer)的通信时序及异步操作。

(2)不能适应超大容量(TB级别及以上)存储产品的仿真测试。已有的仿真器或通过采用计算机的一段内存、或通过磁盘空间来模拟NAND Flash存储。这对于超大容量的存储产品仿真测试明显是不切实际的。

发明内容

本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供了存储设备仿真测试系统及装置，实现超大容量存储设备的仿真测试。

本发明的技术方案包括存储设备仿真测试装置，其特征在于，该装置包括：主机，控制器及存储器；所述主机、所述控制器及所述存储器均设置有对应的通信层，所述通信层基于对应的通信协议完成所述主机、所述控制器及所述存储器任意两两之间的通信；所述存储器用于对存储设备的多项参数进行模拟；所述主机用于根据所述参数配置生成对应的测试用例，根据所述测试用例下发对应的指令及数据至所述控制器；所述控制器对所述指令及数据进行解析，将解析的数据和指令依据写入协议传递至所述存储器；所述存储器将数据写入时，返回写入结果至所述主机，所述主机将测试结果进行分析。

根据所述的存储设备仿真测试装置，其中存储器被配置为NAND Flash。

根据所述的存储设备仿真测试装置，其中所述主机包括FLT通信层、测试用例及NAND Flash通信层；所述控制器包括Host通信层、FLT及NAND Flash 通信层；所述NANDFlash包括Host通信层、NAND Flash仿真层及FLT通信层；所述主机通过所述FLT通信层与所述控制器的FLT进行通信，以及，通过所述 NAND Flash通信层与所述NAND Flash的Host通信层进行通信；所述控制器通过NAND Flash通信层与所述NAND Flash的FLT通信层进行通信。

根据所述的存储设备仿真测试装置，其中所述主机的FTL通信层以及控制器的Host通信层的通信协议遵从存储设备的通讯协议，所述存储产品包括但不限于EMMC，UFS及SSD。