[发明专利]发光装置、光学装置以及信息处理装置

说明书

该发光装置具备：第一发光元件阵列，其包含以第一间隔配置的多个第一发光元件；第二发光元件阵列，其包含以比第一间隔宽的第二间隔配置的多个第二发光元件，构成为输出比第一发光元件阵列的光输出高的光输出，并构成为独立于第一发光元件阵列而被驱动；以及光扩散部件，其设置在第二发光元件阵列的射出路径上。

技术领域

本发明涉及一种发光装置、光学装置以及信息处理装置。

背景技术

专利文献1公开了一种摄像装置，其具备：光源；扩散板，其具有在规定的平面上彼此相邻地配置的多个透镜，并且对光源射出的光进行扩散；以及摄像元件，其接收由被摄体对由扩散板扩散后的光进行了反射的反射光，其中，多个透镜配置为扩散后的光中的干涉条纹的周期为三个像素以下。

【专利文献1】日本特开2018-54769号公报

发明内容

发明要解决的课题

已知一种通过将从发光元件射出的光经由光扩散部件等扩散照射到被测定物来测定被测定物的三维形状的结构。

在这样的结构中，从节能等观点出发，考虑如下结构：使用检测被测定物是否位于预定的距离内的接近检测用的发光元件阵列，在被测定物位于预定的距离内的情况下，从其他发光元件阵列扩散照射三维测定用的强光输出的光。

作为接近检测用的发光元件阵列，期望缩小照射面中的照射面积，以使得即使是小的光输出也能够在被测定物的照射面得到期望的光密度。另一方面，作为三维测定用的发光元件阵列，要求能够照射宽的照射面积的高的光输出，并且期望抑制发光元件的温度。

本公开的非限定性实施方式的一个方面涉及提供一种发光装置等，其与具有第一发光元件阵列和输出比第一发光元件阵列的光输出高的光输出的第二发光元件阵列，且第一发光元件阵列和第二发光元件阵列内的发光元件彼此的间隔相同的情况相比，容易兼顾第一发光元件阵列的照射面积的减小和第二发光元件阵列内的温度抑制。

用于解决课题的手段

[1]根据本公开的一个方面，提供了一种发光装置，其具备：第一发光元件阵列，其包含以第一间隔配置的多个第一发光元件；第二发光元件阵列，其包含以比所述第一间隔宽的第二间隔配置的多个第二发光元件，构成为输出比所述第一发光元件阵列的光输出高的光输出，并构成为独立于所述第一发光元件阵列而被驱动；以及光扩散部件，其设置在所述第二发光元件阵列的射出路径上。

[2]在[1]所述的发光装置中，也可以是，从所述第一发光元件射出的光的扩散角小于从所述第二发光元件射出并朝向所述光扩散部件的光的扩散角。

[3]在[1]或[2]所述的发光装置中，也可以是，所述第一发光元件由用于射出单模的光的激光元件构成。

[4]在[3]所述的发光装置中，也可以是，所述第一发光元件由具有长共振器结构的垂直共振器面发光激光元件构成，在将振荡波长设为λ的情况下，该垂直共振器面发光激光元件具有5λ以上20λ以下的共振器长度。

[5]在[1]至[3]中任一项所述的发光装置中，也可以是，所述第二发光元件由用于射出多模的光的激光元件构成。

[6]在[1]所述的发光装置中，也可以是，所述第一发光元件和所述第二发光元件都是垂直共振器面发光激光元件，驱动所述第一发光元件阵列和所述第二发光元件阵列，以使从作为所述第一发光元件的一个所述垂直共振器面发光激光元件射出的光输出比从作为所述第二发光元件的一个所述垂直共振器面发光激光元件射出的光输出小。

[7]在[1]所述的发光装置中，也可以是，所述第一发光元件和所述第二发光元件都是垂直共振器面发光激光元件，驱动所述第一发光元件阵列和所述第二发光元件阵列，以使其光输出成为使得作为所述第一发光元件的所述垂直共振器面发光激光元件的电力转换效率低于作为所述第二发光元件的所述垂直共振器面发光激光元件的电力转换效率的光输出。