[实用新型]半导体封装结构有效
| 申请号: | 201920866926.7 | 申请日: | 2019-06-06 |
| 公开(公告)号: | CN209896028U | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
| 发明(设计)人: | 殷忠;许庆详;邱高;刘准 | 申请(专利权)人: | 深圳市芯茂微电子有限公司上海携英微电子分公司 |
| 主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/56;H01L23/495;H01L25/16 |
| 代理公司: | 31309 上海巅石知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 高磊;王再朝 |
| 地址: | 201100 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 引线键合 绝缘层 电气连接 封装体 封装 第一表面 封装框架 外接引脚 打线 半导体封装结构 半导体封装 导电介质 第二表面 封装形式 键合引线 批量制造 外露 多目标 输出端 输入端 良率 贴装 粘接 申请 体内 外部 优化 | ||
1.一种半导体封装结构,其特征在于,包括:
封装体,设置有多个外接引脚用于与外部电气连接;
封装框架,设置于所述封装体上,包括封装于所述封装体内的第一表面以及外露于所述封装体的第二表面;
绝缘层,粘接在所述封装框架的第一表面上,包括至少两个引线键合部,所述引线键合部通过键合引线与所述外接引脚电气连接;
电子元件,贴装在所述绝缘层上,其输入端及输出端分别通过导电介质与所述绝缘层的引线键合部电气连接。
2.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于,所述封装体为半导体塑封材料。
3.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于,所述封装框架为金属框架或陶瓷框架。
4.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于,所述绝缘层包括FPC板材、PCB板材、或陶瓷板材。
5.根据权利要求4所述的半导体封装结构,其特征在于,所述FPC板材或PCB板材上布设有一个或多个功能电路。
6.根据权利要求1、4或5所述的半导体封装结构,其特征在于,所述引线键合部为金属焊盘。
7.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于,所述绝缘层藉由粘贴工艺或共晶工艺设置在所述封装框架的第一表面,其中,所述粘贴工艺的粘贴材料包括导电胶水、绝缘胶水、焊料、或DAF膜。
8.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于,所述电子元件藉由导电胶水粘接在所述绝缘层上或者通过SMT贴装工艺焊接在所述绝缘层上。
9.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于,所述电子元件为被动元件或主动元件,其中,所述被动元件包括电容、电阻、或电感,所述主动元件包括存储器芯片、射频芯片、CPU芯片、DPS芯片、MOS管、BJT管、IGBT、三极管、或二极管。
10.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于,所述封装框架的第一表面包括封装于所述封装体的第一器件区及与所述第一器件区空间隔离的第二器件区,所述电子元件设置在所述第一器件区,所述第二器件区上设置有主动元件,所述主动元件通过键合引线与所述外接引脚和/或所述引线键合部电气连接,所述主动元件包括存储器芯片、射频芯片、CPU芯片、DPS芯片、MOS管、BJT管、IGBT、三极管、或二极管。
11.根据权利要求10所述的半导体封装结构,其特征在于,所述主动元件藉由粘贴工艺或共晶工艺设置在所述封装框架的第一表面,其中,所述粘贴工艺的粘贴材料包括绝缘胶水或DAF膜。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





