[发明专利]高厚度连接器点胶包裹焊脚的方法有效
| 申请号: | 201911087267.8 | 申请日: | 2019-11-08 |
| 公开(公告)号: | CN110783206B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
| 发明(设计)人: | 邓承文 | 申请(专利权)人: | 珠海景旺柔性电路有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/67 |
| 代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 涂年影 |
| 地址: | 519000 广东省珠海*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 厚度 连接器 包裹 方法 | ||
本发明公开了高厚度连接器点胶包裹焊脚的方法,包括:将待点胶产品固定在点胶机的治具平台的预设位置上方,确认每件待点胶产品的引脚的MARK点位置;将预设的点胶驱动参数输入点胶机的中央控制器中;启动点胶机,通过对首件待点胶产品进行点胶测试以调整点胶驱动参数;确定点胶驱动参数无误后,侧点胶针头将胶从待点胶产品侧面挤出并挤至引脚底部;侧点胶针头沿引脚的MARK点位置按预设速率前/后移动,直至逐一完成每个引脚底部的侧点胶工序;侧点胶工序完成后,正点胶针头从待点胶产品正上方向下雾状喷胶,重复喷射至预设次数后引脚上方胶厚度达到预设值,喷胶完成;喷胶完成后的产品通过点胶机轨道传入UV固化炉进行固化,固化后点胶完成。
技术领域
本发明涉及柔性线路板SMT器件焊接制作技术,更具体地说是一种高厚度连接器点胶包裹焊脚的方法。
背景技术
现有新能源FPC(柔性线路板)点胶,连接器的引脚高度较高,需要反复进行点胶操作导致点的胶体过厚,直接导致胶下面有部分汽泡无法处理掉,这种传统的点胶方法手工或直接机点胶容易封存气泡,无法保证产品品质的稳定性。
如何解决新能源产品此类高脚的点胶问题,为新能源产品SMT焊接和进口胶后的功能提供可靠性保证,更为有效的点胶方式和设备成为发展的方向。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种高厚度连接器点胶包裹焊脚的方法。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种高厚度连接器点胶包裹焊脚的方法,包括以下步骤:
步骤1:将待点胶产品固定在点胶机的治具平台的预设位置上方,确认每件待点胶产品的引脚的MARK点位置;
步骤2:将预设的点胶驱动参数输入点胶机的中央控制器中;
步骤3:启动点胶机,通过对首件待点胶产品进行点胶测试以调整点胶驱动参数;
步骤4:确定点胶驱动参数无误后,侧点胶针头将胶从待点胶产品侧面挤出并挤至引脚底部;
步骤5:侧点胶针头沿引脚的MARK点位置按预设速率前/后移动,直至逐一完成每个引脚底部的侧点胶工序;
步骤5:侧点胶工序完成后,正点胶针头从待点胶产品正上方向下雾状喷胶,重复喷射至预设次数后引脚上方胶厚度达到预设值,喷胶完成;
步骤6:喷胶完成后的产品通过点胶机轨道传入UV固化炉进行固化,固化后点胶完成。
其进一步技术方案为,所述待点胶产品为已作SMT焊接的连接器产品。
其进一步技术方案为,所述引脚的MARK点位置通过光线传感器/红外传感器/触觉传感器感应以确认。
其进一步技术方案为,所述预设位置为点胶轨道上的点胶卡位,通过卡嵌式方法固定。
其进一步技术方案为,所述侧点胶针头为头部呈90度弯曲的针头,针头弯曲部分水平。
其进一步技术方案为,所述正点胶头顶部为喷头状结构。
其进一步技术方案为,所述点胶驱动参数包括:侧点胶流量、侧点胶速度、侧点胶起点、侧点胶终点及正点胶的路线、正点胶速度、重复次数与点胶路径。
其进一步技术方案为,所述点胶驱动参数根据实际待点胶产品的厚度和胶的厚度要求而设定。
本发明与现有技术相比的有益效果是:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海景旺柔性电路有限公司,未经珠海景旺柔性电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911087267.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:芯片封装的方法、芯片和芯片封装组件
- 下一篇:封装结构的形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





