[发明专利]基于非晶氧化镓薄膜的日盲紫外探测器及其制备方法有效
| 申请号: | 201910732617.5 | 申请日: | 2019-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN110444618B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
| 发明(设计)人: | 张彦芳;程东;叶建东;巩贺贺;陈选虎;任芳芳;朱顺明;顾书林 | 申请(专利权)人: | 南京大学;南京大学深圳研究院;中电科技德清华莹电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L31/0392;H01L31/108;H01L31/0224;H01L31/20 |
| 代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 赵艳平 |
| 地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 氧化 薄膜 紫外 探测器 及其 制备 方法 | ||
1.基于非晶氧化镓薄膜的柔性日盲紫外探测器的制备方法,其特征是,
基于非晶氧化镓薄膜的柔性日盲紫外探测器,探测器以聚酰亚胺薄膜为柔性衬底,使用超宽禁带半导体氧化镓Ga2O3为光探测材料,使用氮化钛半导体作为电极材料,通过光刻、刻蚀和薄膜沉积半导体工艺制备肖特基接触电极层,形成金属电极-半导体层-金属电极MSM结构探测器,实现对波长小于280nm的日盲紫外光的有效探测;
Ga2O3非晶薄膜上制备一对TiN电极,探测器使用Ga2O3非晶薄膜为光吸收和光探测材料,日盲紫外光照射下薄膜的导电特性发生改变;Ga2O3非晶薄膜采用磁控溅射方法制备;
日盲紫外探测器传感器使用TiN为电极材料,无紫外光照射时TiN电极与Ga2O3非晶薄膜形成肖特基接触,日盲紫外光照射下TiN电极与Ga2O3非晶薄膜的接触特性发生改变;
通过光刻、刻蚀和薄膜沉积半导体工艺形成TiN叉指状一对电极,日盲紫外探测器为金属-半导体-金属即MSM结构;探测器选用的聚酰亚胺柔性衬底厚度为20-180 μm,Ga2O3薄膜为非晶结构,厚度为10-200 nm,TiN电极膜厚为20-200 nm;
具体步骤为:
(1)选用聚酰亚胺薄膜织物为柔性衬底,并进行剪裁和清洗;
(2)使用磁控溅射方法沉积Ga2O3非晶薄膜,厚度为10-200 nm;
(3)使用光刻、刻蚀以及磁控溅射工艺沉积TiN电极,形成MSM结构光探测器;
(4)引线键合至芯片电路。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:MSM结构的电极的总面积为440±200×500±200 μm,叉指状电极的间距为5-20 μm。
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