[发明专利]真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置

权利要求书

1.一种真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，包括真空罐(1)、焦面光束质量分析器(2)、大口径真空低温平行光管(3)、标准平面镜(4)、光轴平移反射镜组(5)、标定车(6)、激光雷达(7)；

所述焦面光束质量分析器(2)、大口径真空低温平行光管(3)、标准平面镜(4)、光轴平移反射镜组(5)、激光雷达(7)均布局在真空罐(1)内；

焦面光束质量分析器(2)位于大口径真空低温平行光管(3)焦平面处；

焦面光束质量分析器(2)、大口径真空低温平行光管(3)、标准平面镜(4)、光轴平移反射镜组(5)、激光雷达(7)按测试流程安装至标定车(6)上。

2.根据权利要求1所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，激光雷达(7)的两个发射光孔均在大口径真空低温平行光管(3)的口径范围内，且雷达接收系统口径与大口径真空低温平行光管(3)的通光口径有重叠。

3.根据权利要求1所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，大口径真空低温平行光管(3)的口径为D1，谱段为δ，焦距为f，后截距Lf，波像差为RMS，则有D1≥Φ600mm，δ∈[400nm～1700nm]，f≥10000mm，Lf≥300mm，RMS≤1/10λ，λ＝0.6328μm，且大口径真空低温平行光管(3)能够主动控温，工作温度T∈[20℃，25℃]。

4.根据权利要求1所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，标准平面镜(4)的口径为D2，波像差为RMS’，则有D2≥Φ600mm，光学波前RMS’≤λ/15。

5.根据权利要求3所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，在测试前，借助标准平面镜(4)完成雷达接收系统光轴和大口径真空低温平行光管(3)系统光轴一致性校准。

6.根据权利要求3所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，在测试前，借助标准平面镜(4)完成大口径真空低温平行光管(3)系统焦平面标定，并将焦面光束质量分析器(2)定位安装至该标定位置。

7.根据权利要求1所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，光轴平移反射镜组(5)将激光雷达(7)的两个发射光孔发射的光源转折至大口径真空低温平行光管(3)入光口会聚至焦面光束质量分析器(2)上。

8.根据权利要求7真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，光轴平移反射镜组(5)包括半透半反射镜和平面反射镜，其中，第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、第四反射镜、第五反射镜均是半透半反射镜且光轴同轴，第六反射镜是平面反射镜。

9.根据权利要求1所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，焦面光束质量分析器(2)、光轴平移反射镜组(5)、标定车(6)、激光雷达(7)均能够自主控温，工作温度T’∈[20℃，25℃]。

10.根据权利要求1所述的真空低温下激光雷达收发光轴匹配性测试装置，其特征在于，焦面光束质量分析器(2)的响应光谱400nm—1700nm，敏感面尺寸大于15mm×15mm，像素点大小20μm，并具有后端数据处理分析、显示功能。