[发明专利]一种双玻组件抗温度冲击测试方法在审
| 申请号： | 201910304133.0 | 申请日： | 2019-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN110018077A | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 王永泽;李英叶;谷彦校;郭一;李学健;马海涛;王振;张曦 | 申请（专利权）人： | 英利能源（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/60 | 分类号： | G01N3/60;H01L31/048 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 王政 |
| 地址： | 071051 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 双玻组件 测试 温度冲击 功率测试 外观检查 双玻光伏组件 加热处理 骤冷处理 | ||
1.一种双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
(1)对双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试；
(2)向所述双玻组件样品中通入电流对样品进行加热处理后，进行骤冷处理，使样品温度降低60-80℃；
(3)对处理后的双玻组件样品进行外观检查、EL测试及功率测试，并与处理前双玻组件样品的测试结果进行对比。
2.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述电流为组件工作电流的1-2.5倍。
3.如权利要求2所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述组件工作电流为组件工作最佳电流。
4.如权利要求3所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述组件工作最佳电流为8.0-8.5A。
5.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述加热处理时间25-35min。
6.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：所述骤冷处理的方法为：将所述双玻组件样品浸入冰水混合物中，冷却处理5-10min。
7.如权利要求6所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：将所述双玻组件样品的1/2-2/3浸入冰水混合物中。
8.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于：步骤(2)中，所述双玻组件样品表面固定有温度传感器，用于监控组件温度。
9.如权利要求1所述的双玻组件抗温度冲击测试方法，其特征在于，还包括步骤(4)：重复步骤(2)、(3)，反复对双玻组件样品进行加热-骤冷处理和外观检查、EL测试及功率测试。
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