[发明专利]电子束检测系统

权利要求书

1.一种电子束检测系统，其特征在于，包括：

电子收集装置，与电子束加速器共同位于屏蔽室内，用于检测电子束加速器辐射的电子束强度得到第一信号；

采样盒，位于所述屏蔽室内，与所述电子收集装置连接，用于接收所述第一信号并将所述第一信号转换为光信号形式的反应所述电子束辐照均匀度的第二信号；

通信盒，位于所述屏蔽室外，通过光纤与所述采样盒连接，用于通过所述光纤接收所述第二信号，并将所述第二信号转换为电信号形式的第三信号；

控制器，位于所述屏蔽室外，与所述通信盒连接，用于接收所述第三信号，实现对所述电子束的检测控制。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述通信盒和所述控制器位于控制室内；所述控制室和所述屏蔽室之间设置有金属屏蔽墙；

所述金属屏蔽墙上设置有供所述光纤通过的穿孔。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述采样盒包括：

电流电压转换电路，与所述电子收集装置连接，用于接收作为所述第一信号的电流信号并将所述电流信号转换为电压信号；

数模转换器，与所述电流电压转换电路连接，用于作为模拟信号的所述电压信号转换数字信号；

采样芯片，与所述数模转换器连接，用于将所述数字信号转换为反应所述电子束辐照均匀度的第三信号；

光电转换电路，与所述采样芯片连接，用于将所述第三信号转换为所述光信号形式的所述第二信号。

4.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

电子收集支架；

驱动装置，与所述电子收集装置连接，用于向所述电子收集装置提供驱动力；

所述电子收集装置，安装在所述电子收集支架上，在所述驱动力的驱动下能够基于所述电子收集支架运动。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述电子收集支架包括：

电子收集导轨；

所述电子收集装置，活动安装在所述电子收集导轨上，能够沿所述电子收集导轨做一维运动。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

驱动装置包括步进电机。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述电子收集支架活动安装在辐照加工生产线的安装位上；

若所述活动支架位于第一位置时，所述电子收集装置位于所述辐照加工生产线的加工产品的加工位上，用于检测辐照加工的电子束强度；

若所述活动支架位于第二位置时，所述电子收集装置位于所述加工位外。