[发明专利]一种结构光检测离轴非球面的位姿优化方法有效
| 申请号: | 201810741613.9 | 申请日: | 2018-07-09 |
| 公开(公告)号: | CN108917652B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
| 发明(设计)人: | 赵文川;宋伟红 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 结构 检测 离轴非 球面 优化 方法 | ||
1.一种结构光检测离轴非球面的位姿优化方法,所述方法采用的器件包括LCD显示屏(1)、被测镜面(2)和相机(3),其特征在于:所述方法具体实现步骤如下:
第一步,分别在LCD显示屏(1)、相机(3)和被测镜面(2)上制作至少3个标记点,采用激光跟踪仪进行测量,获得各标记点空间坐标位置信息;
第二步,在LCD显示屏(1)上分别显示横竖正弦条纹,并用相机(3)拍摄经被测镜面(2)反射后的条纹,计算得到LCD显示屏(1)像素坐标;
第三步,使用激光跟踪仪以被测镜面(2)为基准建立坐标系,并建立系统几何模型,然后将标定中得到的LCD显示屏(1)平面度误差数据代入模型中,从点像素坐标转换到其空间坐标;同时,结合相机(3)标定的光线出射光线向量,就可以得到屏幕点的空间坐标,最后将点的实测值与理想值坐标代入下式,
就得到被测镜面(2)的面形误差斜率分布,最后积分就得到了被测镜面(2)的面形误差S;
第四步,建立被测镜面(2)位置姿态优化目标评价函数:
其中,N为总的像素点个数,tx、ty、tz、rx、ry、rz分别为被测面沿xyz方向的平移和旋转,S′i(tx,ty,tz,rx,ry,rz)为被测镜面位置姿态经过调整之后的理想面形,Si为实际测量得到的被测镜面面形;
通过数学优化计算,使得目标函数最小F,即可得到实际检测时的被测镜面(2)位置姿态,进而得到更为准确的被测镜面(2)面形误差信息。
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