[发明专利]一种TFT阵列基板及其制作方法、显示装置有效
申请号: | 201711218906.0 | 申请日: | 2017-11-28 |
公开(公告)号: | CN108010919B | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
发明(设计)人: | 余威 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 孙威;潘中毅 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tft 阵列 及其 制作方法 显示装置 | ||
本发明公开了一种TFT阵列基板,包括:基板;依次设置在基板上的缓冲层和主动层;设置在主动层上的绝缘层,绝缘层的宽度小于主动层的宽度,且绝缘层对应设置在主动层的中间区域,其中:主动层上靠近绝缘层的外周区域凹槽。本发明还公开了一种TFT阵列基板的制作方法及显示装置。实施本发明的TFT阵列基板及其制作方法、显示装置,可阻止等离子处理后的主动层表面的氧空缺扩散到沟道区域,减小导体化主动层中氧空缺扩散对TFT漏电流的影响,提高显示面板的产出良率。
技术领域
本发明涉及显示面板制造领域,尤其涉及一种TFT阵列基板及其制作方法、显示装置。
背景技术
传统的top gate IGZO TFT基板制作中,在制作完GE金属层电极后,以GE金属层当光罩进行自对准等离子处理后,使与SD contact的IGZO表面区域导体化,可以减小IGZO与SD的接触阻抗,形成类似欧姆接触的效果。
上述制作方法存在的问题是:导体化的IGZO里面氧空缺会增多,在后续处理过程中,氧空缺会沿表面向沟道扩散,使IGZO沟道区域上表面的氧空缺增多,会使TFT关闭状况下的漏电增大,TFT无法有效关闭,从而影响TFT的特性。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种TFT阵列基板及其制作方法、显示装置,可阻止等离子处理后的主动层表面的氧空缺扩散到沟道区域,减小导体化主动层中氧空缺扩散对TFT漏电流的影响,提高显示面板的产出良率。
为了解决上述技术问题,本发明的实施例提供了一种TFT阵列基板,包括:基板;依次设置在基板上的缓冲层和主动层;设置在主动层上的绝缘层,绝缘层的宽度小于主动层的宽度,且绝缘层对应设置在主动层的中间区域,主动层上靠近绝缘层的外周区域设有凹槽,绝缘层上覆盖有金属层,同时金属层填充在主动层的凹槽内。
其中,凹槽的一侧开口边缘紧邻主动层上与绝缘层相对应的区域位置。
其中,凹槽设为两个,该两个凹槽分别设置在主动层上靠近绝缘层的外周区域的相对两侧。
其中,凹槽在主动层内的深度小于主动层的厚度。
其中,主动层与绝缘层上设有覆盖主动层和绝缘层的介电层,介电层上设有源漏极金属层。
为解决上述技术问题,本发明还公开了一种TFT阵列基板的制作方法,包括以下步骤:在基板上依次制作缓冲层和主动层;在主动层上整层沉积绝缘层;在绝缘层上涂布光阻,使用对光阻进行曝光、显影;进行刻蚀及光阻去除后,在主动层上靠近绝缘层的外周区域形成凹槽,绝缘层的宽度小于主动层的宽度,且绝缘层对应设置在主动层的中间区域;还包括:在绝缘层上制作金属层,同时金属层填充在主动层的凹槽内。
其中,凹槽的一侧开口边缘紧邻主动层上与绝缘层相对应的区域位置;凹槽设为两个,该两个凹槽分别设置在所述主动层上靠近所述绝缘层的外周区域的相对两侧;所述凹槽在所述主动层内的深度小于所述主动层的厚度。
其中,还包括:在主动层上的与绝缘层上制作覆盖主动层和绝缘层的介电层、在介电层上制作源漏极金属层的步骤。
本发明还公开了一种具有上述TFT阵列基板的显示装置。
实施本发明所提供的TFT阵列基板及其制作方法、显示装置,具有如下有益效果:
第一、基板上依次设置缓冲层和主动层;主动层上设置绝缘层,绝缘层的宽度小于主动层的宽度,且绝缘层对应设置在主动层的中间区域,主动层上靠近绝缘层的外周区域设有凹槽,凹槽中设有金属层,经处理后的主动层表面的氧空缺由金属层阻隔,使氧空缺无法进入到主动层的凹槽中。
第二,通过减小导体化主动层中氧空缺扩散对TFT漏电流的影响,提高显示装置产出的良率。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的