[发明专利]一种高质量碳化硅外延生长工艺在审

专利信息
申请号: 201711000158.9 申请日: 2017-10-24
公开(公告)号: CN107829135A 公开(公告)日: 2018-03-23
发明(设计)人: 钱卫宁;冯淦;赵建辉 申请(专利权)人: 瀚天天成电子科技(厦门)有限公司
主分类号: C30B25/18 分类号: C30B25/18;C30B29/36
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司35204 代理人: 张松亭,陈淑娴
地址: 361000 福建省厦门市翔安区翔星*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 质量 碳化硅 外延 生长 工艺
【权利要求书】:

1.一种高质量碳化硅外延生长工艺,其特征在于:通过化学气相沉积工艺于碳化硅衬底上依次同质生长若干个碳化硅缓冲层,于最上一缓冲层上生长碳化硅外延层;其中由下至上各缓冲层的生长速度阶梯式递增,且最上一缓冲层的生长速度不高于所述外延层的生长速度。

2.根据权利要求1所述的高质量碳化硅外延生长工艺,其特征在于:最下缓冲层的生长速度不低于5μm/h,所述外延层的生长速度不高于100μm/h,且相邻缓冲层递增的幅度为5~15μm/h。

3.根据权利要求1或2所述的高质量碳化硅外延生长工艺,其特征在于:所述缓冲层的层数为Y,且0≤Y-X/5+1<1,其中X为所述外延层的生长速度,Y为整数。

4.根据权利要求1所述的高质量碳化硅外延生长工艺,其特征在于:所述若干个缓冲层的总厚度为1~3μm。

5.根据权利要求1或4所述的高质量碳化硅外延生长工艺,其特征在于:所述各缓冲层的厚度相同。

6.根据权利要求1所述的高质量碳化硅外延生长工艺,其特征在于:所述碳化硅为n型掺杂的碳化硅,所述衬底及各个缓冲层的掺杂浓度分别为1×1018~3×1018个原子/cm3,所述外延层的掺杂浓度为1×1015~1×1017个原子/cm3

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