[实用新型]一种功能测试通用架构有效
| 申请号: | 201621154575.X | 申请日: | 2016-10-31 |
| 公开(公告)号: | CN206440295U | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
| 发明(设计)人: | 徐成飞 | 申请(专利权)人: | 合肥长虹实业有限公司 |
| 主分类号: | G01D11/30 | 分类号: | G01D11/30 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 230000 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 功能 测试 通用 架构 | ||
1.一种功能测试通用架构,其特征在于,包括测试工装框架(1),所述测试工装框架(1)的底部上表面两端通过设置伸缩柱(2)连接有载板(3),所述载板(3)上对称设置有两个测试固定夹(4),两个所述测试固定夹(4)通过旋转柱(5)安装在载板(3)的上表面上,且载板(3)的中间设有圆柱测试孔(6),测试工装框架(1)的顶部设有上天板(7),所述上天板(7)的两端通过设置滑板(8)与测试工装框架(1)的侧柱相连,上天板(7)的下表面安装有表头(9),且上天板(7)的上表面安装有测试信息存储器(10),所述测试信息存储器(10)的表面上设有DP接头(11)。
2.根据权利要求1所述的一种功能测试通用架构,其特征在于:所述旋转柱(5)和DP接头(11)的数量均为两个。
3.根据权利要求1所述的一种功能测试通用架构,其特征在于:所述伸缩柱(2)与载板(3)是以焊接的方式相连。
4.根据权利要求1所述的一种功能测试通用架构,其特征在于:所述上天板(7)采用蜂巢板结构。
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