[发明专利]电磁微颗粒探测方法

权利要求书

1.一种电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤1，将一微小的永磁体置于待测流体附近，所述微小的永磁体提供磁场渗透到所述流体中；

步骤2，使所述微小的永磁体与所述待测流体之间产生相对流动或运动；

步骤3，测量所述待测流体中微颗粒或异质物质引起的所述待测流体周围的感应磁场的变化；

步骤4，通过所述感应磁场变化量确定所述微颗粒或异质物质的特征；

所述步骤2中所述微小的永磁体与所述待测流体之间产生相对流动或运动的相对速度越大，所述步骤3中的所述待测流体周围的感应磁场的变化越大；

所述待测流体的电导率比所述微颗粒或异质物质的电导率低。

2.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤1之前，所述方法还包括：

通过测距传感器测量磁传感器与所述待测流体的距离，使所述微小的永磁体与待测流体表面的基准之间的距离保持不变。

3.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤1中所述微小的永磁体提供空间分布的磁场，并且渗透到所述待测流体中，为了获得更大的磁场渗透效果，所述微小的永磁体的磁化方向垂直于所述待测流体流动方向。

4.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤1中所述微小的永磁体提供空间分布的静磁场，并且渗透到所述待测流体中，所述微小的永磁体与所述待测流体之间不接触。

5.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤2中固定所述微小的永磁体，使所述待测流体流动。

6.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤2中的所述运动中流速为常数。

7.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤3中采用磁传感器测量所述感应磁场的变化,当所述的磁场发生变化时，所述待测流体中存在所述微颗粒或异质物质。

8.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤3中的所述磁场变化的脉冲数目为所述微颗粒或异质物质的数目。

9.根据权利要求1所述的电磁微颗粒探测方法，其特征在于，所述步骤3中的所述磁场变化的量越大，则所述微颗粒或异质物质的尺寸越大。