[发明专利]一种测量近地表地层品质因子的方法及装置

说明书

本发明公开了一种测量近地表地层品质因子的方法及装置，属于石油地震勘探技术领域。本发明通过分别确定第一检波器和第二检波器检测的地震波的频谱，该第一检波器和该第二检波器分别设置于接收井的井底和井口，该地震波由设置于激发井的井底的激发点激发，该激发井的深度大于低速层厚度，该接收井的深度小于该低速层厚度，确定多个第三检波器检测的该地震波的频谱，基于该第一检波器、该第二检波器以及该多个第三检波器分别检测的该地震波的频谱，确定近地表的地层品质因子，由于接收井的深度小于该低速层厚度，因此，避免了低速层底界面对地震波的强反射所造成的干扰，提高了检波器检测地震波的准确性。

技术领域

本发明涉及石油地震勘探技术领域，特别涉及一种测量近地表地层品质因子的方法及装置。

背景技术

近地表一般为层状结构，主要包括低降速层，该低降速层又可以包括低速层和低速层下伏地层，其中，该低速层下伏地层位于该低速层下面。由于容易受到风化剥蚀等作用的影响，近地表对地震波具有强烈的吸收和衰减作用，从而严重影响了地震波的穿透深度和分辨能力，为此，需要对近地表的地层品质因子进行测量，以便依据该地层品质因子，对地震波在近地表的吸收和衰减进行补偿。

在现有技术中，通常采用双井微测井技术测量近地表地层品质因子，具体地，按照指定井间距钻相同深度的两口井，通常该深度要求打穿低速层，到达低速层下伏地层，其中一口井作为激发井，另一口井作为接收井，在该激发井的用雷管等激发，以产生地震波，并且在接收井的井底和井口分别安插用于接收地震波的检波器，之后，通过对该井底和该井口的检波器接收的地震波进行技术分析，即可计算出该深度范围内的近地表地层品质因子。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：

然而，在通过双井微测井技术测量近地表地层品质因子时，由于低速层底界面对地震波具有强反射作用，即容易产生虚反射，从而导致对接收井的井底的检波器接收到的地震波造成干扰。

发明内容

为了解决现有技术的问题，本发明实施例提供了一种测量近地表地层品质因子的方法。所述技术方案如下：

一方面，提供了一种测量近地表地层品质因子的方法，所述方法包括：

分别确定第一检波器和第二检波器检测的地震波的频谱，所述第一检波器和所述第二检波器分别设置于接收井的井底和井口，所述地震波由设置于激发井的井底的激发点激发，所述激发井的深度大于低速层厚度，所述接收井的深度小于所述低速层厚度，且所述接收井与所述激发井之间相距第一预设距离；

确定多个第三检波器检测的所述地震波的频谱，其中，在所述激发井和所述接收井所在位置连线上设置有所述多个第三检波器，且所述多个第三检波器之间的距离为第二预设距离；

基于所述第一检波器、所述第二检波器以及所述多个第三检波器分别检测的所述地震波的频谱，确定近地表的地层品质因子。

可选地，所述基于所述第一检波器、所述第二检波器以及所述多个第三检波器分别检测的所述地震波的频谱，确定近地表的地层品质因子，包括：

基于第一频谱和第二频谱，确定所述低速层的地层品质因子，所述第一频谱为所述第一检波器检测的所述地震波的频谱，所述第二频谱为所述第二检波器检测的所述地震波的频谱；

基于所述第二频谱和多个第三频谱，确定所述低速层下伏地层的地层品质因子，所述多个第三频谱中每个第三频谱为所述多个第三检波器中对应的第三检波器检测的所述地震波的频谱；

基于所述低速层的地层品质因子和所述低速层下伏地层的地层品质因子，确定所述近地表的地层品质因子。

可选地，所述基于所述低速层的地层品质因子和所述低速层下伏地层的地层品质因子，确定所述近地表的地层品质因子，包括：