[发明专利]磁场传感器装置有效
申请号: | 201480025351.6 | 申请日: | 2014-04-23 |
公开(公告)号: | CN105190340B | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
发明(设计)人: | 休伯特·格林;维克托·斯百特 | 申请(专利权)人: | 森斯泰克有限公司 |
主分类号: | G01V3/40 | 分类号: | G01V3/40 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 朱健;陈国军 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电阻元件 磁场传感器装置 电阻设备 磁化轴 导电条 接触区域 磁场矢量分量 各向异性磁阻 测量电流 串连连接 磁化元件 高灵敏度 平均电流 芯片基板 永磁磁化 方向轴 磁阻 预设 磁场 测量 分配 | ||
本发明涉及一种用于测量至少一种磁场矢量分量H
技术领域
本发明涉及一种用于检测至少一种磁场矢量分量的磁场传感器装置,包括至少一种布置在芯片基板上的各向异性磁电阻设备。电阻设备包括多个通过导电条串连的磁敏电阻AMR电阻元件。
背景技术
基于AMR电阻层的操作模式的电子磁场传感器装置在现有技术中众所周知。AMR效应(各向异性磁电阻效应)是指,相对于通过材料的电流的流动,根据流经材料的电流和取决于磁场矢量位置的外部磁场之间的角度改变其电阻的材料的性能。该效应特别是在非常长、薄以及窄的透磁合金(permalloy)条中能够观察到。透磁合金是一种包含81%的镍和19%的铁的合金。当电流在磁场矢量分量的方向流动时该材料的电阻最大。当电流与电磁场矢量分量垂直排列时其电阻最小。在分子水平上,该效应是由取决于电磁化的方向的原子的电子自旋排列的干扰所引起的。通常,在上文所述的配置中,电阻由R=R
现有技术中已知的用于磁场传感器装置的设计的布置,被称为巴伯极结构,也就是布置在AMR测量条上的包括如铝、铜、金或者银等非常导电的材料的薄的导电结构。巴伯极结构相对于AMR电阻条的纵向范围以45°排列,并让人想起用于美国理发店的广告牌,这是它们被称作巴伯极结构的原因。如图2所示,流经电阻条的电流因此被迫流向与该条的纵向范围成45°的方向。结果是,图1所示表示电流矢量的排列上的电阻的依赖关系的曲线相对于磁场矢量移动45°,所以能如图2所示被移动到线性化区域。根据巴伯极结构的排列,假如外部磁场与AMR电阻条的范围纵向或横向排列,结果是电阻器和待测量磁场的大小之间的线性化的上升沿或下降沿。
已知的基于巴伯极结构的磁场传感器装置描述在例如DE3442278A1。为在外部磁场H
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