[发明专利]电光调制器有效
| 申请号： | 201380042440.7 | 申请日： | 2013-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN104520764B | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | D·M·基尔;W·M·格林;A·瓦尔德斯加西亚 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G02F1/35 | 分类号： | G02F1/35;G02B6/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 酆迅;李峥宇 |
| 地址： | 美国纽*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射频( RF )信号 电光调制器 光信号通路 交互区域 传导 信号交互 波导 传播 调制 | ||
1.一种控制电光调制器设备的方法，所述方法包括：
测量所述设备的性能度量以定义第一测量性能值和第二测量性能值；以及
将所述设备的第一调整部分的状态改变为将所述第一调整部分连接到地，以及将所述设备的第二调整部分的状态改变为将所述第二调整部分连接到地，其中所述第一调整部分和第二调整部分分别包括位于与该电光调制器设备的导线部分重叠的位置中的第一传导部分和第二传导部分，将所述第一调整部分和第二调整部分连接到地可用于增加所述第一传导部分和第二传导部分的电容。
2.如权利要求1所述的方法，进一步包括：
响应于将所述设备的第一调整部分的状态改变为将所述第一调整部分连接到地，测量所述设备的所述性能度量以定义所述第二测量性能值；以及
判断所述第二测量性能值是否大于所述第一测量性能值。
3.如权利要求2所述的方法，进一步包括：
响应于判断所述第二测量性能值不大于所述第一测量性能值，判断所述第二测量性能值是否小于所述第一测量性能值；以及
响应于确定所述第二测量性能值小于所述第一测量性能值，将所述设备的所述第一调整部分的状态改变为将所述第一调整部分从地断开。
4.如权利要求3所述的方法，其中，所述方法进一步包括响应于确定所述第二测量性能值大于所述第一测量性能值，将所述设备的第二调整部分的状态改变为将所述第二调整部分连接到地。
5.如权利要求4所述的方法，响应于将所述设备的第二调整部分的状态改变为将所述第二调整部分连接到地，测量所述设备的性能度量以定义第三测量性能值；以及
判断所述第三测量性能值是否大于所述第二测量性能值。
6.如权利要求5所述的方法，进一步包括：
响应于判断所述第三测量性能值不大于所述第二测量性能值，判断所述第三测量性能值是否小于所述第二测量性能值；以及
响应于确定所述第三测量性能值小于所述第二测量性能值，将所述设备的第二调整部分的状态改变为将所述第二调整部分从地断开。
7.一种用于控制电光调制器设备的方法，所述方法包括：
测量所述设备的性能度量以定义第一测量性能值；以及
将所述设备的第一调整部分的状态改变为将所述第一调整部分连接到地，其中所述第一调整部分包括位于与该电光调制器设备的导线部分重叠的位置中的传导部分，将所述第一调整部分连接到地可用于增加所述传导部分的电容。
8.如权利要求7所述的方法，进一步包括：
响应于将所述设备的第一调整部分的状态改变为将所述第一调整部分连接到地，测量所述设备的性能度量以定义第二测量性能值；以及
判断所述第二测量性能值是否大于所述第一测量性能值。
9.如权利要求8所述的方法，进一步包括：
响应于确定所述第二测量性能值不大于所述第一测量性能值，判断所述第二测量性能值是否小于所述第一测量性能值；以及
响应于确定所述第二测量性能值小于所述第一测量性能值，将所述设备的所述第一调整部分的状态改变为将所述第一调整部分从地断开。
10.如权利要求9所述的方法，其中，所述方法进一步包括响应于确定所述第二测量性能值大于所述第一测量性能值，将所述设备的第二调整部分的状态改变为将所述第二调整部分连接到地。
11.如权利要求10所述的方法，其中，响应于将所述设备的第二调整部分的状态改变为将所述第二调整部分连接到地，测量所述设备的所述性能度量以定义第三测量性能值；以及
判断所述第三测量性能值是否大于所述第二测量性能值。
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