[实用新型]一种三维触发式测量头

说明书

所属技术领域

本实用新型涉及一种机械制造使用的测量工具，特别是一种在数控机床或测量机上使用的三维触发式测量头。 

背景技术

三维触发式测量头，也由称为，测量分中棒。即为一种接触式测量工具，三维触发式测量头具有极高的测量和重复精度，重复精度可达0.0003MM，自50年代被英国人发明后，被广泛应用于机械制造领域用于对工件的接触测量。 

特别是70年代，美国军工采用计算机控制系统在数控机床获得测量分中棒的测量触头与工件基准点瞬间接触时的坐标，获取的高精度的测量值。 

参看附图1，三维触发式测量头应用时，安装在数控机床的主轴上，当数控机床的主轴上的测量分中棒的球形测量触头与工件基准点接触时，测量分中棒发出电信号（如指示灯亮或向系统中发出接触信号）。 

三维触发式测量头的测量误差是由测量头本身精度误差、测量头在机床主轴上的安装误差、机床进给误差累积构成，测量头在机床主轴上的安装误差即球形测量触头5的球心与机床主轴轴线之间的安装误差，现有技术是将三维触发式测量头安装在机床主轴上后，通过调整测量头安装柄3绕调整钢珠8相对摆动的角度实现，现有技术 的缺点是，调整困难，调整精度差。 

发明内容

为实用新型现有技术测量头在机床主轴上的安装误差调整困难和调整精度差的技术不足，本实用新型公开一种三维触发式测量头结构，结构中通过平面中X和Y轴方向实施对球形测量触头5的球心位置的调整，消除测量头在机床主轴上的安装误差。 

本实用新型实现发明目的采用的技术方案是：壳体由上壳体和下壳体构成，上壳体上端与测量头安装柄连接，上壳体下端底面上，在同一圆周上120°之间设置有一对上壳体定位凹坑，中心镶嵌设置有上壳体连接磁铁。 

下壳体上端面上，在同一圆周上120°之间设置有一对下壳体定位凹坑，中心镶嵌设置有下壳体连接磁铁，下壳体同轴线圆周上呈90°之间设置有与下壳体螺纹连接的上壳体调整螺杆和下壳体调整螺杆，下壳体调整螺杆的轴线与一对下壳体定位凹坑在同一圆周上呈120°均布设置。 

上壳体和下壳体之间设置有中间连接体，中间连接体上端面固定镶嵌设置有与上壳体连接磁铁对应的中间连接体上磁铁，与上壳体定位凹坑对应的一对上定位钢球，中间连接体下端面固定镶嵌设置有与下壳体连接磁铁对应的中间连接体下磁铁，与下壳体定位凹坑对应的一对下定位钢球，中间连接体上还设置有与上壳体调整螺杆对应的上壳体调整螺杆过孔，中间连接体上端面上的一对上定位钢球与下端面上的一对下定位钢球之间沿中间连接体的轴线呈旋转90°设置。 

上壳体下端底面上壳体定位凹坑与中间连接体一对上定位钢球接触定位，上壳体连接磁铁与中间连接体上磁铁磁力结合构成上壳体与中间连接体的端面定位连接结构，下壳体上端面的下壳体定位凹坑与中间连接体的一对下定位钢珠接触定位，下壳体连接磁铁与中间连接体下磁铁磁力结合构成下壳体与中间连接体的端面定位连接结构，上壳体调整螺杆经中间连接体的上壳体调整螺杆过孔与上壳体下端底面接触，下壳体调整螺杆与中间连接体下端面接触。 

本实用新型的有益效果是，结构简单，调整方便，通过平面中X和Y轴方向实施对球形测量触头5的球心位置的调整，消除测量头在机床主轴上的安装误差。调整精度可达到0.001MM。 

下面结合附图对本发明进行详细描述。 

附图说明

附图1为现有技术结构示意图。 

附图2为本实用新型结构示意图。 

附图3为附图2C向示意图。 

附图4为附图3A-A向剖面示意图。 

附图5为附图3B-B向剖面示意图。 

附图6为附图4D-D向剖面示意图。 

附图7为附图4E-E向剖面示意图。 

附图中，1上壳体，1-1上壳体定位凹坑，1-2上壳体调整螺杆凹坑，1-3上壳体连接磁铁，1-4上壳体调整螺杆，2下壳体，2-1下壳体定位凹坑，2-2下壳体连接磁铁，2-3下壳体调整螺杆，3测 量头安装柄，4中间连接体，4-1上定位钢球，4-2上壳体调整螺杆过孔，4-3中间连接体上磁铁，4-4下定位钢球，4-5中间连接体下磁铁，4-6下壳体调整螺杆凹坑，5球形测量触头，6触头支撑连杆，7调整钢珠。 

具体实施方式

参看附图，一种三维触发式测量头结构，包括：壳体、球形测量触头5、触头支撑连杆6、安装在壳体内的测量头安装座和测量头安装柄3，球形测量触头5经触头支撑连杆6安装在壳体上，测量头安装柄6与壳体螺栓连接。