[发明专利]一种阵列基板

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术，特别是涉及一种阵列基板。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器TFT-LCD作为手机、Pad、笔记本电脑、显示器及电视机等产品的显示元件，在现今的生活中已变得不可或缺。

因此，现有的阵列基板中，为测试面板已经预先设置了不同的测试信号输入端子。

如图2所示，现有的阵列基板包括设置于阵列基板中的不同类型的数据线，如红色、绿色和蓝色亚像素对应的数据线；同时，与每一类数据线对应设置的，具有第一测试信号输入端子的测试信号传输线（在图2中，是以双栅结构的阵列基板为例，第一测试信号输入端子分别为DC、DM和DY，而对于单栅结构的阵列基板而言，测试信号传输线也是三条，第一测试信号输入端子的标记相应为DR、DG和DB）。

由于二者对于数据线而言，仅仅是端子标记的不同，因此后续均以DC、DM和DY为例进行说明。

从数据线角度来看，在对面板进行单色测试时，如对红色亚像素进行测试时，只需要向所有的红色亚像素对应的数据线输入信号即可，同理，对绿色亚像素进行测试时，只需要向所有的绿色亚像素对应的数据线输入信号即可，对蓝色亚像素进行测试时，只需要向所有的蓝色亚像素对应的数据线输入信号即可。

因此现有技术总，需要单独测试红色/绿色/蓝色亚像素时，只需要通过DC/DM/DY输入测试信号即可。

然而，对于液晶面板的测试，不仅仅包括上述的针对像素的点亮测试，还包括对液晶层杂质离子的测试就显得尤为重要。

目前液晶层杂质离子的定量测试是在高温条件下进行的。具体测试时，首先通过高温治具向TFT-LCD面板中的连接栅极传输线的端子及连接数据信号传输线的端子DC、DM和DY施加测试信号，同时向连接公共电极的端子施加三角波电压后，测量流入数据端子的电流。

因此，现有技术的对液晶层杂质离子的测试过程中，从数据线角度来看，需要3根探针，同时向DC、DM和DY施加测试信号。

而能够在高温条件下使用的探针价格昂贵，导致测试成本较高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种阵列基板，降低阵列基板进行杂质离子测试时的费用。

为了实现上述目的，本发明提供了一种阵列基板，包括：设置于阵列基板中的不同类型的数据线；

与每一类型数据线对应设置的，具有第一测试信号输入端子的测试信号传输线；

所述阵列基板还包括：

开关结构，与所述测试信号传输线连接；

第二测试信号输入端子，与所述测试信号传输线中的一条电连接；

控制信号输入端子，与所述开关结构连接，用于输出一个控制信号到所述开关结构，以通过所述控制信号控制所述开关结构中开关单元的状态，导通与所述第二测试信号输入端子电连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线，使得第二测试信号输入端子输入的测试信号能够传输到所有测试信号传输线。

其中，上述的阵列基板，所述开关结构包括薄膜晶体管TFT。

其中，上述的阵列基板，所述阵列基板包括N根测试信号传输线，所述开关结构包括N-1个薄膜晶体管，每一个薄膜晶体管的栅极与所述控制信号输入端子连接，所述N大于或等于3。

其中，上述的阵列基板，所述阵列基板包括N根测试信号传输线，测试信号传输线依序排列，所述开关结构包括N-1个薄膜晶体管，相邻的测试信号传输线通过所述薄膜晶体管连接。

其中，上述的阵列基板，所述测试信号传输线中，与所述第二测试信号输入端子连接的第一测试信号传输线与每一条第二测试信号传输线通过所述薄膜晶体管连接，所述第二测试信号传输线为所述测试信号传输线中除第一测试信号传输线之外的测试信号传输线。

本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例的阵列基板，在测试信号传输线之间设置开关结构，由控制信号输入端子输出的控制信号控制开关结构中的开关单元的状态，导通与所述第二测试信号输入端子电连接的测试信号传输线与其它的测试信号传输线，使得第二测试信号输入端子输入的测试信号能够传输到所有测试信号传输线。因此，对于测试信号而言，本发明实施例只需要两根探针即可实现测试信号的输入（一根用于输入开关结构的控制信号，一根用于输入测试信号），减少了昂贵的探针的使用，降低了测试成本。

同时，在本发明具体实施例中，所有数据线的测试信号都是来自同一个信号源，避免了输入到不同数据线的信号的之间的差异导致的测试结果差异，提高了测试的准确度。

附图说明

图1为本发明实施例的第一结构示意图；