[发明专利]基板、显示屏以及检测基板上透明玻璃的方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及基板、显示屏以及检测基板上透明玻璃的方法。

背景技术

液晶屏的制作工序中，对盒基板进行切割工序，切割工序完成之后还有一道磨边工序，对基板的四边和四个角部进行研磨。磨边工序过程中需要用相机（Camera）读取十字对位标识（Mark），一般是将Mark标识设置在TFT（Thin Film Transistor，薄膜场效应晶体管）基板上。切割工序之前，该十字对位标识的上方是有一层透明玻璃（即dummy），切割之后、研磨之前的制程要求是透明玻璃（dummy）从液晶屏上脱落。由于dummy是透明的，所以研磨时相机能够透过dummy扫描TFT基板上的十字对位标记，继续进行后续的研磨工序。这一层透明玻璃（dummy）如果未脱落，虽然也能够进行研磨工序，但是在高速研磨工序的情况下，将有可能在基板的边角部产生凸起，即毛边，产生产品不良。

因此，由于未能将基板上的dummy检测出来并及时将其进行拦截和脱落操作，导致后续研磨工序中在基板的边角部产生凸起，出现毛边，造成产品不良。

发明内容

（一）要解决的技术问题

针对上述缺陷，本发明要解决的技术问题是如何能够有效地对基板上残留的透明玻璃dummy检测并及时去掉，解决基板毛边问题。

（二）技术方案

为解决上述问题，本发明提供了一种基板，所述基板包括透明玻璃，在所述透明玻璃上设置有遮挡标记，所述遮挡标记与对位标记的位置相对应。

进一步地，所述遮挡标记不透光。

进一步地，所述对位标记设置在阵列基板的正面和/或背面。

进一步地，所述透明玻璃为彩色滤光玻璃，设置在所述阵列基板的上方。

进一步地，所述遮挡标记设置在所述透明玻璃的下方。

为解决上述问题，本发明还提供了一种显示屏，所述显示屏中包括上面所述的基板。

为解决上述问题，本发明还提供了一种检测基板上透明玻璃的方法，所述方法包括：

在基板的透明玻璃上设置遮挡标记，且所述遮挡标记与对位标记的位置相对应，用于遮挡所述透明玻璃下方的对位标记；

对所述基板进行检测，如果在所述基板上检测到所述遮挡标记，则说明所述基板上与所述遮挡标记对应的位置仍有未去除的透明玻璃，否则所述基板上没有未去除的透明玻璃。

进一步地，所述对所述基板进行检测具体包括：通过相机在所述基板上进行检测，如果不能通过所述相机检测到所述对位标记时则说明存在所述遮挡标记，否则不存在所述遮挡标记。

进一步地，当在所述基板上检测到所述遮挡标记时，会发出报警，提醒去除所述透明玻璃。

（三）有益效果

本发明提供了一种基板，基板上包括透明玻璃，在所述透明玻璃上设置有遮挡标记，遮挡标记与对位标记的位置相对应。通过将透明玻璃上增设新的标记，即遮挡标记，在对位标记上方的透明玻璃下设置该遮挡标记，能够将透明玻璃下方的对位标记挡住，相机无法识别到十字对位标记，发出报警，提醒有未去除的透明玻璃，有效拦截透明玻璃沿着生产流线流到下个工序，即研磨工序，避免造成产品毛边，进而提高产品的良品率。

附图说明

图1为没有设置遮挡标记的示意图；

图2为本发明实施例一中设置遮挡标记的示意图；

图3为本发明实施例一中遮挡标记设置位置的截面图；

图4为本发明实施例一中切割时基板刀轮与基板的位置示意图；

图5为本发明实施例一中研磨工序中相机与基板的位置关系图；

图6为本发明实施例二中一种检测基板上透明玻璃的方法步骤流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

实施例一

本发明实施例一中提供了一种基板，该基板包括透明玻璃10，透明玻璃10上设置有遮挡标记20，遮挡标记20与对位标记30的位置相对应。

本实施例的改进之处在于在透明玻璃上增加设置遮挡标记，适用于对盒并进行切割之后，在进行研磨工序之前，通过有助于能够有效地将未去除的透明玻璃识别出来，并及时去除，解决透明玻璃dummy在液晶屏上的残留问题，禁止未被去除的透明玻璃流入到后续研磨工序中，避免基板的边角部产生凸起，即发生毛边现象，解决由于透明玻璃dummy残留导致的各种隐患即品质问题，提高产品的良品率。