[发明专利]一种印章校验方法及其装置

权利要求书

1.一种印章校验方法，其采用印章校验装置对印章进行校验，所述印章校验装置包括：环形分布地向所述印章的印模投射光线的n组光源、对所述印模进行摄像的摄像机、控制n组光源和摄像机协同工作并处理印模图像的控制处理电路；所述控制处理电路包括微处理器和与之连接的存储印章参数的存储模块，所述校验方法包括如下步骤：

X1)稳置所述印章并显露其印模；

X2)n组光源按时序轮流开启对所述印章的印模进行闪光曝光，摄像机随曝光同步拍摄，得到n幅电子图像Fi，其中i＝1、2...n-1，n；

X3)所述控制处理电路比较n幅电子图像的明暗程度值，从中选出最亮的电子图像F_light、和最暗的电子图像F_dark；

X4)所述控制处理电路将最亮的电子图像F_light与最暗的电子图像F_dark对齐，然后进行图像像素叠加合成，得到克服印模上污垢影像干扰的合成电子图像F_target；

X5)所述控制处理电路将合成电子图像F_target与所存储的目标图像和目标参数进行校验核对，发出校验通过或校验拒绝的信号。

2.如权利要求1所述的印章校验方法，其特征在于：所述光源的组数n为3-10。

3.如权利要求1所述的印章校验方法，其特征在于：所述步骤X3中，任一电子图像Fi的明暗程度值，是对该幅图像上全部像素的明暗程度进行代数求和所得；所述步骤X4中，F_light与F_dark的对齐包括如下操作：取该2幅电子图像同一折角为坐标原点，且使该2幅电子图像相应4边重合，然后对2幅电子图像的全部像素进行叠加。

4.如权利要求1所述的印章校验方法，其特征在于：所述印章带有电子标签RFID；所述控制处理电路还包括感应读卡模块、红外对射模块、提示器，所述步骤X1还包括如下操作即：

X1-1)所述红外对射模块检测所述印章摆放状况正常或否，如果摆放状况正常，转向步骤X1-2)即启动提示器作出正常提示并继续步骤X1-3，否则，转向步骤X1-4)即启动提示器作出异常提示并制止后续步骤；

X1-3)感应读卡模块主动感应检测印章内置的电子标签RFID，并将检测信号与存储模块中的相应数据进行对比识别；

X1-5)判断RFID识别通过与否，如果识别通过，转向步骤X2)，否则，转向步骤X1-6)即发出校验未通过的拒绝信号。

5.如权利要求1所述的印章校验方法，其特征在于：所述环形分布的n组光源，各组光源包括1个总开关、2个以上强光二极管即强光LED，各强光LED的朝向均与所述环形的中心法线成15度地向前汇聚。

6.一种用于如权利要求1-5之一所述印章校验方法的印章校验装置，其包括有为印章的印模作取景的透明视窗，其特征在于：所述装置内设有环形分布地向所述印章的印模投射光线的n组光源、对所述印模进行摄像的摄像机、控制n组光源和摄像机协同工作并处理印模图像的控制处理电路；所述控制处理电路包括：微处理器、光源控制模块、数据通讯模块、图像处理模块、存储印章参数的存储模块、显示屏；所述光源控制模块的受控端、摄像机的电子快门受控端、数据通讯模块相应端口分别连接所述微处理器的相应接口；所述摄像机的视频输出端、图像处理模块的输入端分别连接数据通讯模块的相应端口，所述图像处理模块的输出端、存储模块的输出端、显示屏的输入端分别直接或间接地连接所述数据通讯模块的相应端口。

7.如权利要求6所述的印章校验装置，其特征在于：所述印章带有电子标签即RFID；所述控制处理电路还包括红外对射模块、感应读卡模块、提示器、综合比对模块；该红外对射模块的I/O端口、感应读卡模块的I/O端口、提示器的输入端分别连接所述微处理器的相应接口；所述图像处理模块的输出端、存储模块的输出端、显示屏的输入端分别连接该综合比对模块的相应端口，而该综合比对模块相应端口又与所述数据通讯模块的相应数据端口对应连接；微处理器处理红外对射模块的检测信号后发送控制信号给提示器提示印章摆放异常、或确认印章摆放正常后启动感应读卡模块和摄像机采集印章数据，进而通过所述数据通讯模块分别将印章数据输给所述图像处理模块作后续处理、且输给所述综合比对模块作后续比对。