[发明专利]基于MEMS技术的非对称微型超级电容及其制作方法有效
申请号: | 201110359444.0 | 申请日: | 2011-11-14 |
公开(公告)号: | CN102496470A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 王晓红;申采为;李四维 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | H01G9/04 | 分类号: | H01G9/04;B81B7/00;B81C1/00 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 朱琨 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 mems 技术 对称 微型 超级 电容 及其 制作方法 | ||
1.基于MEMS技术的非对称微型超级电容,其特征在于,它的结构如下:在衬底(1)上方依次设置正极复合层(6)和负极复合层(7),正极复合层(6)和负极复合层(7)在水平方向上呈间隔排列,正极复合层(6)与相邻的负极复合层(7)之间存在间隙(8);
正极复合层(6)的结构如下:绝缘层(5)、金属层(4)和正极材料(2)依次安装在衬底(1)上;
负极复合层(7)的结构如下:绝缘层(5)、金属层(4)和负极材料(3)依次安装在衬底(1)上;
正极材料(2)和负极材料(3)形成插指型电极结构。
2.根据权利要求1所述的基于MEMS技术的非对称微型超级电容,其特征在于,所述绝缘层(5)和金属层(4)在竖直方向上重叠;
所述绝缘层(5)和金属层(4)的横截面积均小于衬底(1)的横截面积。
3.基于MEMS技术的非对称微型超级电容的制作方法,其特征在于,分为以下步骤:
1)通过光刻和刻蚀工艺在衬底(1)上形成高宽比为0.2至10的正极沟槽(10)和负极沟槽(11),正极沟槽(10)和负极沟槽(11)之间形成了衬底壁(13),正极沟槽(10)和负极沟槽(11)共同呈现插指型结构;
2)在正极沟槽(10)的底部、负极沟槽(11)的底部和衬底壁(13)的顶部依次镀绝缘层(5)和金属层(4);
3)进行光刻、刻蚀,去除位于衬底壁(13)的顶部的绝缘层(5)和金属层(4);
4)该工序先制作正极材料(2)或先制作负极材料(3);
首先制作正极材料(2)时使用掩蔽膜(12)遮盖负极沟槽(11),然后制作负极材料(3),同时使用掩蔽膜(12)遮盖正极沟槽(10);
或者,首先制作负极材料(3)时使用掩蔽膜(12)遮盖正极沟槽(10),然后制作正极材料(2),同时使用掩蔽膜(12)遮盖负极沟槽(11);
5)刻蚀掉位于正极材料(2)和负极材料(3)之间的衬底壁(13),形成间隙(8)。
4.根据权利要求3所述的基于MEMS技术的非对称微型超级电容的制作方法,其特征在于,所述正极材料(2)的制作包括如下步骤:
1)取颗粒尺寸小于10um的金属氧化物作为活性材料,将上述金属氧化物和导电增强剂混合后球磨2-3小时,得到混合均匀的粉末;
2)然后将有机粘结剂溶于氮甲基吡咯烷酮或水中,再将上述混合均匀的粉末加入其中,搅拌获得正极材料(2)的均匀悬浊液;
3)最后将上述均匀悬浊液注入正极沟槽(10),待溶剂挥发后,即留下由有机粘结剂粘结成型的正极材料(2),在正极材料(2)中,金属氧化物的重量百分率为60-95wt%,导电增强剂的重量百分率为3-20wt%,有机粘结剂的重量百分率为2-20wt%。
5.根据权利要求3所述的基于MEMS技术的非对称微型超级电容的制作方法,其特征在于,所述负极材料(3)的制作包括如下步骤:
1)取颗粒尺寸小于10um的多孔碳作为活性材料,将上述金属氧化物和导电增强剂混合后球磨2-3小时,得到混合均匀的粉末;
2)然后将有机粘结剂溶于氮甲基吡咯烷酮或水中,再将上述混合均匀的粉末加入其中,搅拌获得负极材料(3)的均匀悬浊液;
3)最后将上述均匀悬浊液注入负极沟槽(11),待溶剂挥发后,即留下由有机粘结剂粘结成型的负极材料(3),在负极材料(3)中,多孔碳的重量百分率为60-95wt%,导电增强剂的重量百分率为3-20wt%,有机粘结剂的重量百分率为2-20wt%。
6.根据权利要求3所述的基于MEMS技术的非对称微型超级电容的制作方法,其特征在于,所述正极沟槽(10)和负极沟槽(11)的高宽比为0.2-10。
7.根据权利要求3所述的基于MEMS技术的非对称微型超级电容的制作方法,其特征在于,所述正极材料(2)和负极材料(3)均实现自支撑。
8.根据权利要求3所述的基于MEMS技术的非对称微型超级电容的制作方法,其特征在于,所述正极复合层(6)与负极复合层(7)的宽度之比介于2∶1到1∶4之间。
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