[发明专利]包含玻璃覆盖掩膜的玻璃pH电极有效
| 申请号: | 201080061075.0 | 申请日: | 2010-11-08 |
| 公开(公告)号: | CN102713594A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
| 发明(设计)人: | 弗兰克·霍兰德·卡朋特;约翰·罗伯特·伍德沃德;卡尔·路易斯·金 | 申请(专利权)人: | 哈希公司 |
| 主分类号: | G01N27/30 | 分类号: | G01N27/30;G01N27/36 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王旭 |
| 地址: | 美国科*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 包含 玻璃 覆盖 ph 电极 | ||
1.一种低斜率pH电极(100),所述低斜率pH电极(100)包括:
电极体(102);
pH敏感性玻璃(122),所述pH敏感性玻璃(122)熔合至所述电极体(102)中,其中所述pH敏感性玻璃(122)具有预定面积;以及
掩膜(124),所述掩膜(124)形成在所述pH敏感性玻璃(122)的所述预定面积的预定部分上,以便形成低斜率pH特性,其中通过所述掩膜(124)阻挡通过所述pH敏感性玻璃(122)进行的离子交换的至少一部分。
2.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),所述低斜率pH电极(100)还包括:
电极元件(108),所述电极元件(108)安置在所述电极体(102)内;
pH缓冲溶液(105),所述pH缓冲溶液(105)基本上充满所述电极体(102);以及
密封物(113),所述密封物(113)将所述电极体(102)基本上密封。
3.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含非氢离子响应性材料。
4.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含非水合氢离子响应性材料。
5.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含基本上无孔的材料。
6.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含最低限度地有孔的材料。
7.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)形成在所述pH敏感性玻璃(122)的外部表面上。
8.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)以预定厚度形成。
9.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)以预定图案形成。
10.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)形成在所述pH敏感性玻璃(122)的外部表面或内部表面之一上或两者上。
11.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述低斜率pH电极包括非能斯特pH电极。
12.一种形成低斜率pH电极的方法,所述方法包括:
形成包含传感器开口的电极体;
将预定面积的pH敏感性玻璃熔合至所述传感器开口中;以及
遮掩所述预定面积的预定部分以便形成低斜率pH特性,其中阻挡通过所述pH敏感性玻璃进行的离子交换的至少一部分。
13.权利要求12所述的方法,所述方法还包括:
将电极元件安置在所述电极体内;
用pH缓冲溶液基本上充满所述电极体;以及
将所述电极体基本上密封。
14.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含非氢离子响应性材料。
15.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含非水合氢离子响应性材料。
16.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含基本上无孔的材料。
17.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含最低限度地有孔的材料。
18.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜形成在所述pH敏感性玻璃的外部表面上。
19.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜以预定厚度形成。
20.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜以预定图案形成。
21.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜形成在所述pH敏感性玻璃的外部表面或内部表面之一上或两者上。
22.权利要求12所述的方法,其中所述低斜率pH电极包括非能斯特pH电极。
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