[发明专利]包含玻璃覆盖掩膜的玻璃pH电极有效

专利信息
申请号: 201080061075.0 申请日: 2010-11-08
公开(公告)号: CN102713594A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 弗兰克·霍兰德·卡朋特;约翰·罗伯特·伍德沃德;卡尔·路易斯·金 申请(专利权)人: 哈希公司
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30;G01N27/36
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王旭
地址: 美国科*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 包含 玻璃 覆盖 ph 电极
【权利要求书】:

1.一种低斜率pH电极(100),所述低斜率pH电极(100)包括:

电极体(102);

pH敏感性玻璃(122),所述pH敏感性玻璃(122)熔合至所述电极体(102)中,其中所述pH敏感性玻璃(122)具有预定面积;以及

掩膜(124),所述掩膜(124)形成在所述pH敏感性玻璃(122)的所述预定面积的预定部分上,以便形成低斜率pH特性,其中通过所述掩膜(124)阻挡通过所述pH敏感性玻璃(122)进行的离子交换的至少一部分。

2.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),所述低斜率pH电极(100)还包括:

电极元件(108),所述电极元件(108)安置在所述电极体(102)内;

pH缓冲溶液(105),所述pH缓冲溶液(105)基本上充满所述电极体(102);以及

密封物(113),所述密封物(113)将所述电极体(102)基本上密封。

3.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含非氢离子响应性材料。

4.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含非水合氢离子响应性材料。

5.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含基本上无孔的材料。

6.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)包含最低限度地有孔的材料。

7.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)形成在所述pH敏感性玻璃(122)的外部表面上。

8.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)以预定厚度形成。

9.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)以预定图案形成。

10.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述掩膜(124)形成在所述pH敏感性玻璃(122)的外部表面或内部表面之一上或两者上。

11.权利要求1所述的低斜率pH电极(100),其中所述低斜率pH电极包括非能斯特pH电极。

12.一种形成低斜率pH电极的方法,所述方法包括:

形成包含传感器开口的电极体;

将预定面积的pH敏感性玻璃熔合至所述传感器开口中;以及

遮掩所述预定面积的预定部分以便形成低斜率pH特性,其中阻挡通过所述pH敏感性玻璃进行的离子交换的至少一部分。

13.权利要求12所述的方法,所述方法还包括:

将电极元件安置在所述电极体内;

用pH缓冲溶液基本上充满所述电极体;以及

将所述电极体基本上密封。

14.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含非氢离子响应性材料。

15.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含非水合氢离子响应性材料。

16.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含基本上无孔的材料。

17.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜包含最低限度地有孔的材料。

18.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜形成在所述pH敏感性玻璃的外部表面上。

19.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜以预定厚度形成。

20.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜以预定图案形成。

21.权利要求12所述的方法,其中所述掩膜形成在所述pH敏感性玻璃的外部表面或内部表面之一上或两者上。

22.权利要求12所述的方法,其中所述低斜率pH电极包括非能斯特pH电极。

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