[发明专利]二次电池劣化判定方法、二次电池劣化判定装置、及电源系统有效

专利信息
申请号: 201010575509.0 申请日: 2006-09-13
公开(公告)号: CN102129039A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 岩根典靖;木村贵史;藤村幸司;渡边勇一;佐藤敏幸;岩花史和;饭岛崇 申请(专利权)人: 古河电气工业株式会社
主分类号: G01R31/36 分类号: G01R31/36
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李贵亮
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 二次 电池 判定 方法 装置 电源 系统
【权利要求书】:

1.一种二次电池劣化判定方法,其根据向负载供电的二次电池的内部阻抗或内部电阻来判定所述二次电池的劣化状态,所述二次电池劣化判定方法的特征在于,

预先设定规定的温度特性函数,该温度特性函数包括至少一个以上的指数项和一个调整参数,并表示所述内部阻抗或所述内部电阻的温度依存性,

以所述二次电池按规定电流进行充电或放电时的电流测定值以及电压测定值为基础,计算所述内部阻抗或所述内部电阻,

将所述二次电池按所述规定电流进行充电或放电时的所述二次电池的温度测定值和所述计算出的内部阻抗或内部电阻代入所述温度特性函数中来确定所述调整参数的值,

将所述确定的调整参数的值和规定的基准温度代入所述温度特性函数来计算基准内部阻抗或基准内部电阻,

根据所述计算出的基准内部阻抗或基准内部电阻来判定所述二次电池的劣化状态。

2.如权利要求1所述的二次电池劣化判定方法,其特征在于,

当将所述内部阻抗设为Z,所述内部电阻设为R,所述调整参数设为C,所述二次电池的温度设为Temp时,所述温度特性函数表示为

Z(Temp)或R(Temp)=f(C)×exp{g(C)/Temp}+C

其中,f、g表示规定的函数。

3.如权利要求1或2所述的二次电池劣化判定方法,其特征在于,

分别预先设定用于根据所述基准内部阻抗进行劣化判定的第一判定阈值和用于根据所述基准内部电阻进行劣化判定的第二判定阈值,

在计算出所述基准内部阻抗时,评价所算出的所述基准内部阻抗和所述第一判定阈值的大小关系,

在计算出所述基准内部电阻时,评价所算出的所述基准内部电阻和所述第二判定阈值的大小关系,

根据所述大小关系中的某一个来判定所述二次电池的劣化状态。

4.如权利要求1至3中任一项所述的二次电池劣化判定方法,其特征在于,

根据将频率为100Hz以上的交流电流作为所述规定电流进行充电或放电时的所述电流测定值以及所述电压测定值来计算所述内部阻抗。

5.如权利要求1至3中任一项所述的二次电池劣化判定方法,其特征在于,

将脉冲状电流作为所述规定电流进行充电或放电,并根据所述充电或放电开始后10ms以内的所述电流测定值以及所述电压测定值来计算所述内部电阻。

6.一种二次电池劣化判定装置,其根据向负载供电的二次电池的内部阻抗或内部电阻来判定所述二次电池的劣化状态,所述二次电池劣化判定装置的特征在于,包括:

使所述二次电池进行规定电流的充电的充电电路;

使所述二次电池进行规定电流的放电的放电电路;

测定所述二次电池的电流的电流传感器;

测定所述二次电池的电压的电压传感器;

测定所述二次电池的温度的温度传感器;以及

控制单元,其分别从所述电流传感器、电压传感器以及温度传感器输入由所述充电电路或所述放电电路以规定电流使所述二次电池充电或放电时的电流测定值、电压测定值以及温度测定值,根据所述电流测定值以及所述电压测定值来计算所述内部阻抗或所述内部电阻,将所述计算出的内部阻抗或内部电阻以及所述温度测定值代入包括至少一个以上的指数项和一个调整参数并表示所述内部阻抗或所述内部电阻的温度依存性的温度特性函数中来确定所述调整参数的值,将所述确定的调整参数的值和规定的基准温度代入所述温度特性函数中来计算基准内部阻抗或基准内部电阻,并根据所述计算出的基准内部阻抗或基准内部电阻来判定所述二次电池的劣化状态。

7.如权利要求6所述的二次电池劣化判定装置,其特征在于,

还具有存储单元,其预先存储用于根据所述基准内部阻抗进行劣化判定的第一判定阈值和用于根据所述基准内部电阻进行劣化判定的第二判定阈值,

所述控制单元在计算出所述基准内部阻抗时,从所述存储单元读出所述第一判定阈值并评价所述第一判定阈值和所述基准内部阻抗的大小关系,在计算出所述基准内部电阻时,从所述存储单元读出所述第二判定阈值并评价所述第二判定阈值和所述基准内部电阻的大小关系,根据所述大小关系中的某一个来判定所述二次电池的劣化状态。

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