[发明专利]用于测试部分地组装的多管芯器件的方法、集成电路管芯和多管芯器件

权利要求书

1.一种对部分地组装的多管芯器件(1)进行测试的方法，所述器件包括：

-载体(300)，包括器件级测试数据输入(12)和器件级测试数据输出(18)；

-所述载体上的第一管芯，所述第一管芯(100c)具有测试访问端口，所述测试访问端口包括主测试数据输入(142)、辅测试数据输入(144)和测试数据输出(152)，所述测试访问端口由测试访问端口控制器(110)来控制；其中，所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)以通信方式与器件级测试数据输入(12)耦合，所述第一管芯(100c)的测试数据输出(152)以通信方式与器件级测试数据输出(18)耦合；

所述方法包括以下步骤：

-使所述第一管芯(100c)处于所述第一管芯(100c)接受来自所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)的测试指令的状态；

-将测试数据提供给所述第一管芯(100c)，包括通过所述器件级测试数据输入(12)向所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)提供测试指令；以及

-在器件级测试数据输出(18)上，从所述第一管芯(100c)收集测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述第一管芯(100c)处于状态的步骤包括：向所述第一管芯(100c)的所选寄存器提供配置信息，以使所述第一管芯(100c)处于所述状态。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所选寄存器包括耦合在所述第一管芯(100c)的所述辅测试数据输入(144)和所述测试数据输出(152)之间的标识寄存器(106)，所述第一管芯还包括与所述标识寄存器(106)耦合的比较逻辑，以及，使所述第一管芯处于所述第一管芯接受来自所述第一管芯的辅测试数据输入(144)的测试指令的状态的步骤包括：

-将所述第一管芯(100c)的测试访问端口控制器(110)重置为使得所述标识寄存器(106)与所述辅测试数据输入(144)耦合；

-经由器件级测试数据输入(12)将配置信息移入所述标识寄存器(106)；

-将所提供的配置信息与存储在所述第一管芯(100c)中的标识码进行比较；以及

-在配置信息和标识码匹配的情况下，使测试访问端口(100c)能够经由所述辅测试数据输入(144)来接收测试指令。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测试访问端口控制器(110)包括测试输入选择管脚，所述方法还包括将所述测试输入选择管脚与载体级配置输入相连接，以及，使所述第一管芯(100c)处于所述状态的步骤包括向所述测试输入选择管脚提供辅测试输入选择信号。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，主测试数据输入管脚(142)与弱固定二进制值源相连接，所述第一管芯(100c)包括用于检测主测试数据输入(142)上的二进制补码的检测器(510)，以及，使所述第一管芯(100c)处于所述状态的步骤包括：响应于所述检测器(510)发信号通知在主测试数据输入(142)上不存在二进制补码，选择辅测试数据输入(144)。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括用于形成部分地组装的多管芯器件的以下组装步骤：

-提供包括器件级测试数据输入(12)和器件级测试数据输出(18)的载体(300)；

-将第一管芯组装至所述载体，所述第一管芯(100c)具有测试访问端口，所述测试访问端口包括主测试数据输入(142)、辅测试数据输入(144)和测试数据输出(152)，所述测试访问端口由测试访问端口控制器(110)来控制，所述组装步骤包括：以通信方式将所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)与器件级测试数据输入(12)耦合，并将所述第一管芯(100c)的测试数据输出(152)与器件级测试数据输出(18)耦合。