[发明专利]双相钢与碳钢T型接头角焊缝超声波探伤方法有效
| 申请号: | 200910272527.9 | 申请日: | 2009-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN101699279A | 公开(公告)日: | 2010-04-28 |
| 发明(设计)人: | 周兆乾;陈文胜;周辉 | 申请(专利权)人: | 中国长江航运集团青山船厂 |
| 主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
| 代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 陈家安 |
| 地址: | 430082 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 双相钢 接头 焊缝 超声波 探伤 方法 | ||
技术领域
本发明涉及船舶双相钢与碳钢T型接头角焊缝超声波探伤方法。
背景技术
现有的同种钢之间的角焊缝用超声波探伤方法来检验焊接效果,超声波可直接检查出焊缝缺陷,从而判定焊接的质量。如双相不锈钢之间的焊接,碳钢与碳钢之间的焊接等。但是若是两种不同材质的钢种之间进行焊接,用超声波探伤检测出的缺陷反射波不一定就反应了焊缝中存在缺陷,因而会产生误判。
如在双相不锈钢与碳钢角焊缝超声波探伤中,因双相不锈钢与碳钢材质的不同及声阻抗差异经波型转换后会产生界面波,界面波会影响对焊缝缺陷的评定,影响超声波探伤的准确性,造成不必要的返修。
目前,国内就船舶双相不锈钢与碳钢角焊缝中出现的界面波干扰尚无可靠解决方法。因此,研究船舶双相钢与碳钢T型接头角焊缝超声波探伤方法具有十分重要的意义。
发明内容
本发明的目的在于克服现有采用超声波探伤对异种钢T型接头角接缝容易产生误判,造成不必要的返修的不足之处,而提供一种双相钢与碳钢T型接头角焊缝超声波探伤方法。
本发明的目的是通过如下措施来达到的:双相钢与碳钢T型接头角焊缝超声波探伤方法,其特征在于它包括如下步骤:
①、操作人员需具有CCS认可的UT II级操作资格证,采用国家认可的超声波检测仪;
②、制作双相不锈钢与碳钢接头的复合试件标块,按CB/T3559-94标准制作;
③、在第②步中的复合试件标块上,用超声波检测仪进行检测,并记录各反射波波形;
④、对复合试件标块进行断面观察,验证缺陷情况,印证伪缺陷波的存在;
⑤、在第④步断面观察后的复合试件标块上分割出经印证无缺陷的一块试件,在试件焊缝中钻Φ3mm标准孔制作人工缺陷,取常规探头进行超声波探伤检测,记录各反射波波形;
⑥、取比第⑤步中的常规探头频率低、晶片尺寸大的探头对在第⑤步中的钻Φ3mm标准孔的试件进行超声波探伤检测,记录各反射波波形;
⑦、比较第⑤步和第⑥步中的波形,若第⑥步中的波幅比第⑤步中的波幅显示有明显的降低,则此波为伪缺陷波;反之则为缺陷波。
本发明双相钢与碳钢T型接头角焊缝超声波探伤方法,对消除因异质界面而出现的复杂波的波型转换对超声波探伤检测的影响,对伪缺陷的正确识别及提高缺陷的检出率有重大影响,对焊接质量的保证有深远意义。
附图说明
图1为取双相不锈钢与碳钢材料制作的标准试块图样。
图2a,图2b为对双相不锈钢与碳钢接头焊缝检测的反射信号位置图。
图3为对双相不锈钢与碳钢接头焊缝的检测位置关系图。
图4为对双相不锈钢与碳钢接头焊缝的超声波探伤声束穿透路径示意图。
图5为取工件材料(双相不锈钢与碳钢)制作的标准试块及做人工缺陷与检测位置的关系图。
图6为探头1检测人工缺陷的波形图。
图7为探头2检测人工缺陷的波形图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本发明的实施情况,但它们并不构成对本发明保护的限定,仅作举例而已。同时通过说明本发明的优点将变得更加清楚和容易理解。
本发明双相钢与碳钢T型接头角焊缝超声波探伤方法,其特征在于它包括如下步骤:
①、操作人员需具有CCS认可的UT II级操作资格证,采用国家认可的超声波检测仪;
②、制作双相不锈钢与碳钢接头的复合试件标块,按CB/T3559-94标准制作;
③、在第②步中的复合试件标块上,用超声波检测仪进行检测,并记录各反射波波形;
④、对复合试件标块进行断面观察,验证缺陷情况,印证伪缺陷波的存在;
⑤、在第④步断面观察后的复合试件标块上分割出经印证无缺陷的一块试件,在试件焊缝中钻Φ3mm标准孔制作人工缺陷,取常规探头进行超声波探伤检测,记录各反射波波形;
⑥、取比第⑤步中的常规探头频率低、晶片尺寸大的探头对在第⑤步中的钻Φ3mm标准孔的试件进行超声波探伤检测,记录各反射波波形;
⑦、比较第⑤步和第⑥步中的波形,若第⑥步中的波幅比第⑤步中的波幅显示有明显的降低,则此波为伪缺陷波;反之则为缺陷波。
下面结合具体的附图和实验过程来说明本发明的实施情况:
一.人员准备及设备
人员:具备CCS认可的UT II级操作资格证。
设备:国家计量局检定的CTS-22型超声波检测仪;
探头1.频率P=5MHZ K=2晶片尺寸9mm*9mm;
探头2.频率P=2MHZ K=2晶片尺寸13mm*13mm;
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