[发明专利]用于确定用于检测芯片上的故障的相关值以及确定芯片上的位置的故障概率的方法和装置

说明书

背景技术

本发明涉及例如在模拟或无线射频(RF)电路中对芯片或其它器件的 测试以及对那些芯片或器件上的故障的诊断。

在已知的方法中，电路行为针对在每种处理参数的相关组合下的每种 可能的故障被仿真，并被存储在故障字典中。对被诊断电路或被测试器件 (DUT)的测量结果被与故障字典中的所有条目进行比较，其中故障字典 中最相似的条目标识被诊断出的故障。这种方法很直接，但是需要大量的 长时间运行的仿真。此外，它需要对测试条件的建模。F.Liu、S.O.Ozev 描述了一个示例：“Efficient Simulation of Parametric Faults for Multi-Stage Analog Circuits(对多级模拟电路的参数故障的高效仿真)，ITC 2007”。

诊断故障的能力对于良率学习(yield learning)是非常关键的，例如 提高生产期间的良率，但是纠正措施只有在故障的物理本质已知时才是可 能的。与用于数字系统的故障诊断相比，对于在模拟或射频(RF)电路中 的例如表现为参数变化的故障而言还没有已知的实用方法。

发明内容

本发明的实施例的目的在于实现在大量制造期间对参数故障的实用故 障诊断。

本发明的实施例提供了一种用于确定相关值(relevance value)R(i，m) 的方法，每个相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目I个输入节点 中的输入节点i与第二数目M个测量节点中的测量节点m的组合(i，m) 的相关性，所述方法包括：在第一数目I个输入节点处应用第三数目K个 测试，其中第三数目K个测试中的每个测试k为每个输入节点i定义一测 试输入选项U(k，i)；针对所述第三数目K个测试中的每个测试k测量在第 二数目M个测量节点中的每个测量节点处的信号，以针对第二数目M个 测量节点中的每个测量节点m获得第三数目K个测量值，其中每个测量 值Y(k，m)与测量所针对的测试k和被测量的测量节点m相关联；确定相 关值R(i，m)，其中每个相关值是基于针对相应组合中的输入节点i所定义 的第三数目K个测试输入选项U(k，i)和与所述相应组合(i，m)中的测量 节点m相关联的第三数目K个测量值Y(k，m)之间的互相关性 (correlation)来计算的。

本发明的其它实施例提供了一种用于确定芯片上的位置(x，y，z)的 故障概率F(x，y，z)的方法，包括以下步骤：确定相关值(R(i，m))，每个 相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目I个输入节点中的输入节点i 与第二数目M个测量节点中的测量节点m的组合(i，m)的相关性；针对 芯片的第四数目P个信号路径中的每个信号路径p确定从位置(x，y，z)到所 述芯片上的第四数目P个信号路径中的每个路径的距离L((x，y，z)，i，m， p)，其中每个信号路径p从所述第一数目I个输入节点中的输入节点i延伸 到所述第二数目M个测量节点中的测量节点m；以及基于将距离L((x，y， z)，i，m，p)与用相应路径p延伸开始的输入节点i与所述相应路径p所延伸 至的测量节点m的组合的相关值R(i，m)加权的所述第四数目P个路径中的 每个路径相加，来确定故障概率F(x，y，z)。

本发明基于如下发现：当在测试组中测量m的偏差与输入i互相关 时，被诊断出的故障位置在输入i被应用到的位置A(i)与测量m被执行的 位置B(m)之间。这假定输入i感知到了故障。

当输入i只影响故障检测能力并且信号图已知时，被诊断到的故障位 置在从A(i)到B(m)的信号路径上。

测量m与用测量m的总体偏差加权的输入i的所有互相关C(i，m)的叠 加降低了位置模糊性。

本发明的实施例不需要故障模型，不需要对器件的详细认知、不需要 对测试建模并且也完全不需要仿真。

对于特定实施例，只有输入i被应用的输入节点的位置以及测量m被 执行的测量节点m的位置需要是已知的。

此外，对于另外一些实施例，将特定输入节点i与特定测量节点m相 连接的信号路径p的位置也是已知的。这些实施例能够实现对芯片的故障 电路元件的精确自动定位。

附图说明

下文中参考附图对本发明的实施例进行描述：

图1示出了射频收发器的电路图。