[发明专利]用于确定用于检测芯片上的故障的相关值以及确定芯片上的位置的故障概率的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定相关值R(i，m)的方法，每个相关值表示用于检测芯片 上的故障的第一数目I的输入节点中的输入节点i与第二数目M的测量节 点中的测量节点m的组合(i，m)的相关性，所述方法包括：

在所述第一数目I的输入节点处应用第三数目K的测试，其中所述第 三数目K的测试中的每个测试k为每个输入节点i定义测试输入选项U(k， i)；

针对所述第三数目K的测试中的每个测试k测量在所述第二数目M 的测量节点中的每个测量节点处的信号，以针对所述第二数目M的测量节 点中的每个测量节点m获得第三数目K的测量值，其中每个测量值Y(k， m)与测量所针对的测试k和被测量的测量节点m相关联；

确定所述相关值R(i，m)，其中每个相关值R(i，m)是基于针对相应组合 的输入节点i所定义的第三数目K的测试输入选项U(k，i)和与所述相应组 合(i，m)的测量节点m相关联的第三数目K的测量值Y(k，m)之间的互相关 来计算的。

2.根据权利要求1所述的方法，其中为了计算所述互相关，每个测量 值Y(k，m)针对与所述测量值Y(k，m)相同测试k和相同测量节点m所关联 的平均值μ_Y(k，m)被标准化。

3.根据权利要求1所述的方法，其中为了计算所述互相关，每个测量 值Y(k，m)针对与所述测量值Y(k，m)相同测试k和相同测量节点m所关联 的标准偏差σ_Y(k，m)被标准化。

4.根据权利要求1所述的方法，其中为了计算所述互相关，每个测试 输入选项U(k，i)针对与所述测试输入选项U(k，i)相同输入节点i所关联的 平均值μ_U(i)被标准化，其中所述平均值μ_U(i)是与输入节点i相关联的第三 数目K的测试输入选项的平均值。

5.根据权利要求1所述的方法，其中为了计算所述互相关，每个测试 输入选项U(k，i)针对与所述测试输入选项U(k，i)相同输入节点i所关联的 标准偏差σ_U(i)被标准化，其中所述标准偏差σ_U(i)是与所述输入节点i相关 联的第三数目K的测试输入选项的标准偏差。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述相关值R(i，m)被确定为互相 关值C(i，m)，其中C(i，m)是输入节点i和测量节点m之间的互相关值。