[发明专利]供太阳能电池用的半导体基板及其制造方法有效
申请号: | 200810147016.X | 申请日: | 2008-08-12 |
公开(公告)号: | CN101651154A | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 陈敏璋;徐文庆;何思桦 | 申请(专利权)人: | 昆山中辰硅晶有限公司 |
主分类号: | H01L31/02 | 分类号: | H01L31/02;H01L31/18 |
代理公司: | 北京天平专利商标代理有限公司 | 代理人: | 孙 刚 |
地址: | 215300江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 半导体 及其 制造 方法 | ||
1.一种供一太阳能电池(solar cell)用的半导体基板(semiconductor substrate),该半导体基板包含:
一基板(substrate),该基板具有一上表面;以及
一表面钝化层(surface passivation layer),该表面钝化层由一原子层沉积(atomic layer deposition,ALD)制程,一层层的形成于该基板的该上表面上,其中在一个原子层沉积的周期内的反应步骤包含:
(1.)利用载送气体将一先驱物(precursor)分子导入反应腔体,在基材表面形成单一层先驱物基;
(2.)通入载送气体将多余未吸附于基材的先驱物分子抽走;
(3.)利用载送气体将另一前驱物(precursor)分子导入反应腔体中,与原本吸附在基材表面的单一层先驱物基,在基材上反应形成单一原子层的薄膜;
(4.)通入载送气体,带走多余的先驱物分子以及反应产生的副产物。
2.如权利要求1所述的半导体基板,其特征在于,该表面钝化层由Al2O3、AlN、HfO2、Hf3N4、Si3N4、SiO2、Ta2O5、TiO2、TiN、ZnO、ZrO2及Zr3N4中的其中一种制成。
3.如权利要求1所述的半导体基板,其特征在于,该表面钝化层的沉积是在一介于室温至600℃之间的制程温度下执行。
4.如权利要求3所述的半导体基板,其特征在于,该表面钝化层是在一介于100℃至600℃之间的退火温度下执行退火。
5.如权利要求1所述的半导体基板,其特征在于,该基板的厚度等于或小于300μm。
6.如权利要求5所述的半导体基板,其特征在于,该基板由硅制成。
7.一种制造供一太阳能电池(solar cell)用的半导体基板(semiconductor substrate)的方法,该方法包含下列步骤:
制备一基板(substrate),该基板具有一上表面;以及
通过一原子层沉积(atomic layer deposition,ALD)制程,在该基板的该上表面上一层层的形成一表面钝化层(surface passivation layer),其中在一个原子层沉积的周期内的反应步骤包含:
(1.)利用载送气体将一先驱物(precursor)分子导入反应腔体,在基材表面形成单一层先驱物基;
(2.)通入载送气体将多余未吸附于基材的先驱物分子抽走;
(3.)利用载送气体将另一前驱物(precursor)分子导入反应腔体中,与原本吸附在基材表面的单一层先驱物基,在基材上反应形成单一原子层的薄膜;
(4.)通入载送气体,带走多余的先驱物分子以及反应产生的副产物。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,该表面钝化层由Al2O3、AlN、HfO2、Hf3N4、Si3N4、SiO2、Ta2O5、TiO2、TiN、ZnO、ZrO2及Zr3N4中的其中一种制成。
9.如权利要求7所述的方法,其特征在于,该表面钝化层的沉积是在一介于室温至600℃之间的制程温度下执行。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,该表面钝化层是在一介于100℃至600℃之间的退火温度下执行退火。
11.如权利要求7所述的方法,其特征在于,该基板的厚度等于或小于300μm。
12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,该基板由硅制成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的