[发明专利]供太阳能电池用的半导体基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200810147016.X 申请日: 2008-08-12
公开(公告)号: CN101651154A 公开(公告)日: 2010-02-17
发明(设计)人: 陈敏璋;徐文庆;何思桦 申请(专利权)人: 昆山中辰硅晶有限公司
主分类号: H01L31/02 分类号: H01L31/02;H01L31/18
代理公司: 北京天平专利商标代理有限公司 代理人: 孙 刚
地址: 215300江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 太阳能电池 半导体 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种供一太阳能电池(solar cell)用的半导体基板(semiconductor substrate),该半导体基板包含:

一基板(substrate),该基板具有一上表面;以及

一表面钝化层(surface passivation layer),该表面钝化层由一原子层沉积(atomic layer deposition,ALD)制程,一层层的形成于该基板的该上表面上,其中在一个原子层沉积的周期内的反应步骤包含:

(1.)利用载送气体将一先驱物(precursor)分子导入反应腔体,在基材表面形成单一层先驱物基;

(2.)通入载送气体将多余未吸附于基材的先驱物分子抽走;

(3.)利用载送气体将另一前驱物(precursor)分子导入反应腔体中,与原本吸附在基材表面的单一层先驱物基,在基材上反应形成单一原子层的薄膜;

(4.)通入载送气体,带走多余的先驱物分子以及反应产生的副产物。

2.如权利要求1所述的半导体基板,其特征在于,该表面钝化层由Al2O3、AlN、HfO2、Hf3N4、Si3N4、SiO2、Ta2O5、TiO2、TiN、ZnO、ZrO2及Zr3N4中的其中一种制成。

3.如权利要求1所述的半导体基板,其特征在于,该表面钝化层的沉积是在一介于室温至600℃之间的制程温度下执行。

4.如权利要求3所述的半导体基板,其特征在于,该表面钝化层是在一介于100℃至600℃之间的退火温度下执行退火。

5.如权利要求1所述的半导体基板,其特征在于,该基板的厚度等于或小于300μm。

6.如权利要求5所述的半导体基板,其特征在于,该基板由硅制成。

7.一种制造供一太阳能电池(solar cell)用的半导体基板(semiconductor substrate)的方法,该方法包含下列步骤:

制备一基板(substrate),该基板具有一上表面;以及

通过一原子层沉积(atomic layer deposition,ALD)制程,在该基板的该上表面上一层层的形成一表面钝化层(surface passivation layer),其中在一个原子层沉积的周期内的反应步骤包含:

(1.)利用载送气体将一先驱物(precursor)分子导入反应腔体,在基材表面形成单一层先驱物基;

(2.)通入载送气体将多余未吸附于基材的先驱物分子抽走;

(3.)利用载送气体将另一前驱物(precursor)分子导入反应腔体中,与原本吸附在基材表面的单一层先驱物基,在基材上反应形成单一原子层的薄膜;

(4.)通入载送气体,带走多余的先驱物分子以及反应产生的副产物。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,该表面钝化层由Al2O3、AlN、HfO2、Hf3N4、Si3N4、SiO2、Ta2O5、TiO2、TiN、ZnO、ZrO2及Zr3N4中的其中一种制成。

9.如权利要求7所述的方法,其特征在于,该表面钝化层的沉积是在一介于室温至600℃之间的制程温度下执行。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,该表面钝化层是在一介于100℃至600℃之间的退火温度下执行退火。

11.如权利要求7所述的方法,其特征在于,该基板的厚度等于或小于300μm。

12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,该基板由硅制成。

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