[实用新型]微全分析系统非接触电导与荧光检测装置无效
| 申请号： | 200720047999.0 | 申请日： | 2007-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN201016979Y | 公开（公告）日： | 2008-02-06 |
| 发明（设计）人： | 陈缵光;刘翠;李偶连;蓝悠 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N27/00;G01N21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510275广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分析 系统 接触 电导 荧光 检测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种微全分析系统非接触电导与荧光检测装置，包括芯片(1)、非接触电导电极(2，3)、非接触电导测量装置(4)、荧光检测装置(5)，芯片(1)上设有分离通道(6)，非接触电导电极(2，3)位于分离通道(6)侧位并接往非接触电导测量装置(4)，其特征是，荧光检测装置(5)的激发光源(7)的光路和检光元件(8)的入射光路对准芯片分离通道(6)上于两个非接触电导电极(2，3)之间的区域。
2.根据权利要求1所述的微全分析系统非接触电导与荧光检测装置，其特征是，荧光检测装置(5)的激发光源(7)为发光二极管。
3.根据权利要求1所述的微全分析系统非接触电导与荧光检测装置，其特征是，荧光检测装置(5)的检光元件(8)为光敏二极管、光电倍增管或光子计数器。
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