[发明专利]一种磁控管溅射装置无效

专利信息
申请号: 200610155915.5 申请日: 2006-12-31
公开(公告)号: CN101210314A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: 肖金泉;张小波;孙超;宫骏;华伟刚;石南林;闻立时 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 代理人: 张志伟
地址: 110016辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁控管 溅射 装置
【权利要求书】:

1.一种磁控管溅射装置,其特征在于:

包括磁控管(1)和电磁线圈(6)两个部分,所述两个装置同轴相对放置;

所述的电磁线圈(6)沿磁控管(1)中心线移动放置在磁控管(1)外侧或基片(5)旁或两者之间的任一位置;调节电磁线圈的电流大小及方向,产生一个与磁控管同轴的辅助磁场。

2.按权利要求1所述的磁控管溅射装置,其特征在于:所述磁控管(1)是平衡态磁控管或非平态磁控管。

3.按权利要求1所述的磁控管溅射装置,其特征在于:所述磁控管(1)是圆形平面磁控溅射靶或矩形平面磁控溅射靶。

4.按权利要求1所述的磁控管溅射装置,其特征在于:所述的电磁线圈(6)是圆形或矩形。

5.按权利要求1所述的磁控管溅射装置,其特征在于:所述的电磁线圈(6)所施加的励磁电流包括直流电流,其方向和大小可以改变,电流大小变化范围在使电磁线圈产生10-500高斯强度;所述的电磁线圈(6)所施加的励磁电流还包括低频交流,低频范围为10-1000Hz,电流大小和频率可以改变,电流大小变化范围在使电磁线圈产生10-500高斯强度内。

6.一种磁控管溅射装置,其特征在于:

包括磁控管(1)和一对电磁线圈(6,7)两个部分,彼此同轴相对放置;

电磁线圈(6),沿着磁控管(1)中心轴线放置在磁控管外侧;

电磁线圈(7),沿着磁控管(1)中心轴线放置在基片(5)处,调节电磁线圈(6,7)的电流大小及方向,产生一个与磁控管同轴的辅助磁场。

7.按权利要求6所述的磁控管溅射装置,其特征在于:所述的电磁线圈(6,7)是圆形或矩形。

8.按权利要求6所述的磁控管溅射装置,其特征在于:所述的磁控管(1)前电磁线圈(6)所施加的励磁电流是低频交流,频率为10-1000Hz,电流大小和频率可以调节;基片(5)处电磁线圈(7)所施加的励磁电流是直流或低频交流,直流电流方向和大小可以调节,电流大小变化范围在使电磁线圈产生10-500高斯强度内,低频交流电流大小和频率可以调节,频率为10-1000Hz,电流大小变化范围在使电磁线圈产生10-500高斯强度内。

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