[发明专利]计算机外设接口测试装置

说明书

技术领域

本发明是关于一种计算机外设测试装置，尤其是关于一种针对测试硬盘机与光驱接口所使用的测试装置。

背景技术

一般而言，先前技术的测试硬盘机与光驱的方法，是使用实际的硬盘机与光驱进行测试，因为直接消耗硬盘机与光驱成品，使得测试成本较高。

先前技术亦有取代实际硬盘机或光驱的方式，将硬盘机或光驱的PATA(Parallel ATA)传输接口或SATA(Serial ATA)传输接口，利用一个接口转接器与存储卡电性连结之后，借由存储卡内储存的测试程序进行硬盘机或光驱的测试，其缺点在于功能简单，且无论测试硬盘机或光驱，其外型大小与实际的硬盘机或光驱不同，造成测试时将接口转接器连结或拔除上的不便。

发明内容

本发明的主要目的是在提供一种计算机外设接口测试装置，利用本发明的测试装置，可在仿真符合PATA传输接口标准的硬盘机、符合SATA传输接口标准的硬盘机、符合PATA传输接口标准的光驱等硬设备的情况下进行测试，避免直接消耗实际的硬盘机或光驱成品，以节省测试成本。

本发明的另一主要目的是在提供一种与实际的计算机外设装置的大小实质相同的计算机外设接口测试装置，在进行测试时可方便进行测试装置的拆装动作。

为达成上述的目的，本发明的计算机外设接口测试装置，是使用于计算机，计算机包括硬盘机接口与光驱接口，计算机外设接口测试装置包括硬盘机测试模块，是与存储卡电性连结，存储卡储存至少一程序，硬盘机测试模块包括：第一基板、多个凹槽、存储卡槽、第一连接器及第二连接器。第一基板包括四个侧边，分别为第一侧边、第二侧边、第三侧边及第四侧边；多个凹槽位于基板周围，用以固定第一基板；存储卡槽设置于第一基板上，用以容置存储卡；第一连接器是位于第二侧边，第一连接器与存储卡槽电性连结；借此，当第一连接器与计算机的硬盘机接口电性连接时，可借由该至少一程序测试硬盘机接口；该第二连接器，位于该第四侧边，该第二连接器与该存储卡槽电性连结，借此，当该第二连接器与该计算机的该硬盘机接口电性连接时，可借由该至少一程序测试该硬盘机接口。

计算机外设接口测试装置，在测试光驱时，除硬盘机测试模块外，还包括光驱测试模块，该模块包括：第二基板、第四连接器、第五连接器。第二基板包括四个边，分别为第一侧边、第二侧边、第三侧边及第四侧边；第四连接器是位于第二基板的第一侧边，第四连接器与硬盘机测试模块的第一连接器电性连接，使第二基板与第一基板相结合；第五连接器是位于第二基板的第三侧边，第五连接器与第四连接器电性连接，借此，当第五连接器与计算机的光驱接口电性连接时，可借由至少一程序测试光驱接口。

附图说明

图1是本发明的硬盘机测试模块的俯视图。

图2是本发明的光驱测试模块的俯视图。

图3是本发明的硬盘机测试模块与光驱测试模块相结合时的俯视图。

图4是本发明的光驱测试模块的音频信号产生线路示意图。

组件代表符号说明

硬盘机测试模块 1

第一基板 10

硬盘机测试模块的第一侧边 101

硬盘机测试模块的第二侧边 102

硬盘机测试模块的第三侧边 103

硬盘机测试模块的第四侧边 104

第一连接器 11

第二连接器 12

第三连接器 13

存储卡槽 14

凹槽 15、16、17、18

光驱测试模块 2

第二基板 20

光驱测试模块的第一侧边 201

光驱测试模块的第二侧边 202

光驱测试模块的第三侧边 203

光驱测试模块的第四侧边 204

第四连接器 21

第五连接器 22

第六连接器 23

第七连接器 24

音频信号产生线路 25

振荡线路 26

第一分频线路 27

第二分频线路 28

具体实施方式

为能更了解本发明的技术内容，特举具体实施例并配合附图说明如下。

图1为本发明的硬盘机测试模块的俯视图，图2为本发明的光驱测试模块的俯视图。本发明的计算机外设测试装置，包括如图1所示的硬盘机测试模块1与如图2所示的光驱测试模块2。当测试硬盘机时，使用硬盘机测试模块1；当测试光驱时，须将硬盘机测试模块1结合光驱测试模块2一并使用。以下分别就硬盘机测试模块1与光驱测试模块2进行说明。